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2-4-4 X線分析法
27問 • 1年前
  • 金城学院y1971154
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  • 1

    結晶性物質は、構成分子や原子が不規則に配列されたものである。

    ‪✕‬

  • 2

    結晶多形の判定に用いられるX線分析法はどちらか。

    粉末X線回折測定法

  • 3

    粉末X線回折測定法により評価される医薬品の物性はどれか。１つ選べ。

    結晶性

  • 4

    回折現象が観測される際、試料へ照射したX線の一部は試料中の原子核を強制振動させることで散乱X線を生じる。

    ‪✕‬

  • 5

    粉末Ｘ線回折測定法は、無配向化した粉末試料にＸ線を照射し、その物質中の原子核を強制振動させることにより干渉性散乱Ｘ線による回折強度を、各回折角について測定する方法である。

    ‪✕‬

  • 6

    X線を結晶に照射すると、主にその物質中の電子の強制振動が起こり、散乱X線が生じる

    〇

  • 7

    水素原子核は質量が最も小さいため、X線回折において、電子だけではなく、原子核によるX線の散乱を考慮しなくてはならない。

    ‪✕‬

  • 8

    X線回折法測定には、連続X線が通常用いられる。

    ‪✕‬

  • 9

    X線回折法でX線源のターゲット（対陰極）には、CuやMoが用いられる。

    〇

  • 10

    X線管球の対陰極で用いられる金属は、一般にZnやMoがある。

    ‪✕‬

  • 11

    X線回折が生じる構造の条件を規定した式をブラッグの式という。

    〇

  • 12

    Ｘ線の波長をλ、面間隔をｄ、結晶の入射角及び反射角をθ、反射次数をｎとすると、2dsinθがＸ線の波長の整数倍ｎλと一致するとき、散乱Ｘ線の位相が一致する。

    〇

  • 13

    Ｘ線の波長をλ、面間隔をｄ、結晶の入射角及び反射角をθ、反射次数をｎとすると、2dcosθ＝ｎλを満たす角度でのみＸ線回折が生じる。

    ‪✕‬

  • 14

    粉末Ｘ線回折測定法は、結晶多形や溶媒和結晶の判定に用いることが出来る。

    〇

  • 15

    粉末Ｘ線回折測定法では未知化合物の立体構造を一義的に決定出来る。

    ‪✕‬

  • 16

    粉末X線回折パターンの横軸に表されるパラメータはどれか。１つ選べ。

    1

  • 17

    粉末Ｘ線回折測定法では、明確な構造の規則性をもたない非晶質や結晶性の著しく低下した試料の場合、そのＸ線回折パターンは散漫性の極大を持つハローパターンを示す。

    〇

  • 18

    粉末Ｘ線回折測定法では、結晶構造に基づいた同心円状の回折像が得られる。

    〇

  • 19

    粉末Ｘ線回折測定法では、フーリエ変換によって電子の密度図を復元することで、タンパク質の立体構造を決定することができる。

    ‪✕‬

  • 20

    Ｘ線結晶構造解析法は結晶、結晶多形及び溶媒和結晶の同定、判定、定量などに用いることができる。

    ‪✕‬

  • 21

    Ｘ線結晶構造解析法は、低分子化合物のみ立体構造を一義的に決定できる。

    ‪✕‬

  • 22

    Ｘ線結晶構造解析法では、生体分子の構造解析を行うことができる。

    〇

  • 23

    Ｘ線結晶構造解析の結果により、注目する原子間で働く相互作用の判別が出来る。

    〇

  • 24

    Ｘ線結晶構造解析法は、回折斑点からフーリエ変換により電子の密度図を復元する方法である。

    〇

  • 25

    Ｘ線結晶構造解析法において、回折斑点の強度から結晶内部の電子密度に関する情報がわかる。

    〇

  • 26

    X線結晶構造解析では、回折斑点の強度から結晶の格子定数が求められる。

    ‪✕‬

  • 27

    Ｘ線結晶構造解析法で用いるシンクロトロン放射光は、光速に近い電子が磁場によって曲げられたときに放射される電磁波である。

    〇

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    結晶性物質は、構成分子や原子が不規則に配列されたものである。

    ‪✕‬

  • 2

    結晶多形の判定に用いられるX線分析法はどちらか。

    粉末X線回折測定法

  • 3

    粉末X線回折測定法により評価される医薬品の物性はどれか。１つ選べ。

    結晶性

  • 4

    回折現象が観測される際、試料へ照射したX線の一部は試料中の原子核を強制振動させることで散乱X線を生じる。

    ‪✕‬

  • 5

    粉末Ｘ線回折測定法は、無配向化した粉末試料にＸ線を照射し、その物質中の原子核を強制振動させることにより干渉性散乱Ｘ線による回折強度を、各回折角について測定する方法である。

    ‪✕‬

  • 6

    X線を結晶に照射すると、主にその物質中の電子の強制振動が起こり、散乱X線が生じる

    〇

  • 7

    水素原子核は質量が最も小さいため、X線回折において、電子だけではなく、原子核によるX線の散乱を考慮しなくてはならない。

    ‪✕‬

  • 8

    X線回折法測定には、連続X線が通常用いられる。

    ‪✕‬

  • 9

    X線回折法でX線源のターゲット（対陰極）には、CuやMoが用いられる。

    〇

  • 10

    X線管球の対陰極で用いられる金属は、一般にZnやMoがある。

    ‪✕‬

  • 11

    X線回折が生じる構造の条件を規定した式をブラッグの式という。

    〇

  • 12

    Ｘ線の波長をλ、面間隔をｄ、結晶の入射角及び反射角をθ、反射次数をｎとすると、2dsinθがＸ線の波長の整数倍ｎλと一致するとき、散乱Ｘ線の位相が一致する。

    〇

  • 13

    Ｘ線の波長をλ、面間隔をｄ、結晶の入射角及び反射角をθ、反射次数をｎとすると、2dcosθ＝ｎλを満たす角度でのみＸ線回折が生じる。

    ‪✕‬

  • 14

    粉末Ｘ線回折測定法は、結晶多形や溶媒和結晶の判定に用いることが出来る。

    〇

  • 15

    粉末Ｘ線回折測定法では未知化合物の立体構造を一義的に決定出来る。

    ‪✕‬

  • 16

    粉末X線回折パターンの横軸に表されるパラメータはどれか。１つ選べ。

    1

  • 17

    粉末Ｘ線回折測定法では、明確な構造の規則性をもたない非晶質や結晶性の著しく低下した試料の場合、そのＸ線回折パターンは散漫性の極大を持つハローパターンを示す。

    〇

  • 18

    粉末Ｘ線回折測定法では、結晶構造に基づいた同心円状の回折像が得られる。

    〇

  • 19

    粉末Ｘ線回折測定法では、フーリエ変換によって電子の密度図を復元することで、タンパク質の立体構造を決定することができる。

    ‪✕‬

  • 20

    Ｘ線結晶構造解析法は結晶、結晶多形及び溶媒和結晶の同定、判定、定量などに用いることができる。

    ‪✕‬

  • 21

    Ｘ線結晶構造解析法は、低分子化合物のみ立体構造を一義的に決定できる。

    ‪✕‬

  • 22

    Ｘ線結晶構造解析法では、生体分子の構造解析を行うことができる。

    〇

  • 23

    Ｘ線結晶構造解析の結果により、注目する原子間で働く相互作用の判別が出来る。

    〇

  • 24

    Ｘ線結晶構造解析法は、回折斑点からフーリエ変換により電子の密度図を復元する方法である。

    〇

  • 25

    Ｘ線結晶構造解析法において、回折斑点の強度から結晶内部の電子密度に関する情報がわかる。

    〇

  • 26

    X線結晶構造解析では、回折斑点の強度から結晶の格子定数が求められる。

    ‪✕‬

  • 27

    Ｘ線結晶構造解析法で用いるシンクロトロン放射光は、光速に近い電子が磁場によって曲げられたときに放射される電磁波である。

    〇