エックス線管及びエックス線の発生に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）エックス線管の内部は、効率的にエックス線を発生させるため、高度の真空になっている。 （２）陰極で発生する熱電子の数は、フィラメント電流を変えることで制御される。 （３）陽極のターゲットはエックス線管の軸に対して斜めになっており、エックス線が発生する領域である実焦点より、これをエックス線束利用方向から見た実効焦点の方が小さくなるようにしてある。 （４）連続エックス線の発生効率は、元素の原子番号と管電流との積にほぼ比例する。 （５）管電圧がターゲット元素に固有の励起電圧を超える場合、発生するエックス線は、制動放射による連続エックス線と線スペクトルを示す特性エックス線が混在したものになる

エックス線装置の管電流を一定にして、管電圧を増加させた場合に、発生する連続エックス線に認められる変化として、誤っているものは次のうちどれか。 （１）最大エネルギーは、高くなる。 （２）最大強度を示す波長は、短くなる。 （３）線質は、硬くなる。 （４）全強度は、管電圧に比例して大きくなる。 （５）最短波長は、管電圧に反比例して短くなる。

特性エックス線に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）特性エックス線は、ターゲット元素ごとに固有の波長を有している。 （２）Ｋ殻よりも高いエネルギー状態にある周囲の殻からＫ殻の空席に電子が移行するときに発生する特性エックス線を、Ｋ系列の特性エックス線という。 （３）Ｋ系列の特性エックス線を発生させるための励起電圧は、タングステンよりもモリブデンの方が高い。 （４）Ｋ系列の特性エックス線は、エックス線管の管電圧を上げると、強度は増大するが波長は変わらない。 （５）エックス線の光電効果に伴って発生する特性エックス線を蛍光エックス線という。

エックス線を利用する装置とその原理との組合せとして、誤っているものは次のうちどれか。 （１）エックス線応力測定装置 ………………………… 回折 （２）エックス線ＣＴ装置 ……………………………… 回折 （３）蛍光エックス線分析装置 ………………………… 分光 （４）エックス線マイクロアナライザー ……………… 分光 （５）エックス線厚さ計 ………………………………… 散乱

エックス線装置を使用する管理区域を設定するための外部放射線の測定に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）測定は、原則として１ cm 線量当量について行うが、70 µm 線量当量が１ cm線量当量の10倍を超えるおそれのある場所においては、70 µm 線量当量について行う。 （２）測定器は、国家標準とのトレーサビリティが明確になっている基準測定器又は数量が証明されている線源を用いて測定実施日の１年以内に校正されたものを使用する。 （３）測定器は、サーベイメータのほか、積算型放射線測定器を用いることができる。 （４）測定器は、測定中に指針の漂動(シフト)が少ないものを使用する。 （５）測定点の高さは、作業床面上の約１m の位置とする。