エックス線に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。 （１）エックス線は、エックス線管の陰極と陽極の間に高電圧をかけて発生させる高エネルギーの荷電粒子の流れである。 （２）エックス線は、磁場の影響を受ける。 （３）エックス線は、直接電離放射線である。 （４）連続エックス線は、高エネルギー電子が原子核近傍の強い電場を通過するとき急に減速され、運動エネルギーの一部を電磁波の形で放出するものである。 （５）エックス線のエネルギーは、その波長に比例する。

エックス線装置の管電流を一定にして、管電圧を増加させた場合に、発生する連続エックス線に認められる変化として、誤っているものは次のうちどれか。 （１）最大エネルギーは、高くなる。 （２）最大強度を示す波長は、短くなる。 （３）線質は、硬くなる。 （４）全強度は、管電圧に比例して大きくなる。 （５）発生効率は、管電圧に比例して大きくなる。

特性エックス線に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。 （１）特性エックス線の波長は、ターゲット元素の原子番号が大きくなると長くなる。 （２）ターゲット元素がタングステンの場合の K 励起電圧は、タングステンより原子番号の小さい銅やモリブデンの場合に比べて高い。 （３）管電圧がＫ励起電圧を下回るときは、K 系列以外の系列の特性エックス線も発生することはない。 （４）K 殻電子が電離されたことによって特性エックス線が発生することをオージェ効果という。 （５）特性エックス線は、原子核のエネルギー準位の遷移に伴い、原子核から放出される。

エックス線と物質との相互作用に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）入射エックス線のエネルギーが中性子 1 個の静止質量に相当するエネルギー以上にならないと、電子及び陽電子を生じる電子対生成が起こらない。 （２）コンプトン効果とは、エックス線光子と原子の軌道電子とが衝突し、電子が原子の外に飛び出し、光子が運動の方向を変える現象である。 （３）コンプトン効果による散乱エックス線は、入射エックス線のエネルギーが高くなるほど前方に散乱されやすくなる。 （４）光電効果とは、原子の軌道電子がエックス線光子のエネルギーを吸収して原子の外に飛び出し、光子が消滅する現象である。 （５）光電効果が起こる確率は、エックス線のエネルギーが高くなるほど低下する。

あるエックス線装置のエックス線管の焦点から 1m 離れた点での 1cm 線量当量率は 60mSv/hであった。 このエックス線装置を用いて、鉄板とアルミニウム板を重ね合わせた板に細い線束のエックス線を照射したとき、エックス線管の焦点から 1m 離れた点における透過後の 1cm 線量当量率は 7.5mSv/h であった。 このとき、鉄板とアルミニウム板の厚さの組合せとして正しいものは次のうちどれか。 ただし、このエックス線に対する鉄の減弱係数を 3.0cm－1、アルミニウムの減弱係数を 0.5cm－1とし、鉄板及びアルミニウム板を透過した後のエックス線の実効エネルギーは、透過前と変わらないものとし、散乱線による影響は無いものとする。 なお、loge2＝0.69 とする。 鉄板 アルミニウム板 （１）2.3mm 13.8mm （２）2.3mm 20.7mm （３）4.6mm 13.8mm （４）4.6mm 20.7mm （５）4.6mm 27.6mm

あるエネルギーのエックス線に対する半価層が 5mm の遮へい板 P、10mm の遮へい板 Q、15mm の遮へい板 R があり、板厚はともに 10mm である。 これらを用いた次の A から D の遮へい体により、このエックス線を遮へいするとき、遮へい効果の高いものから順に並べたものは（１）～（５）のうちどれか。 A 遮へい板 P を 2 枚重ねた遮へい体 B 遮へい板 Q を 3 枚重ねた遮へい体 C 遮へい板 P1 枚と遮へい板 R2 枚を重ねた遮へい体 D 遮へい板 P1 枚と遮へい板 Q1 枚と遮へい板 R1 枚を重ねた遮へい体 （１）A ＞ C ＞ B ＞ D （２）A ＞ D ＞ C ＞ B （３）B ＞ A ＞ C ＞ D （４）B ＞ C ＞ D ＞ A （５）C ＞ D ＞ A ＞ B

エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）蛍光エックス線分析装置は、物質を透過したエックス線を蛍光体を塗布した板の上に当てたときにできる蛍光像を観察することによって、物質の欠陥の程度などを識別する装置である。 （２）エックス線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線束を試料の微小部分に照射し、発生する特性エックス線を分光することによって、微小部分の元素を分析する装置である。 （３）エックス線回折装置は、結晶質の物質にエックス線を照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析し、物質の性質を調べる装置である。 （４）エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。 （５）エックス線透過試験装置は、被検査物体を透過したエックス線による画像を観察する装置で、画像の検出にはフィルムなどが用いられる。

単一エネルギーで太い線束のエックス線が物質を透過するときの減弱及び再生係数（ビルドアップ係数）に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。 （１）再生係数は、入射エックス線の線量率が高くなるほど小さくなる。 （２）再生係数は、物質への照射面積が大きいほど大きくなる。 （３）再生係数は、物質の厚さが薄くなるほど小さくなる。 （４）再生係数は、透過後、物質から離れるほど小さくなり、その値は 1 に近づく。 （５）太い線束のエックス線では、散乱線が加わるため、細い線束のエックス線より減弱曲線の勾配は緩やかになり、見かけ上、減弱係数が小さくなる。