X線管及びX線の発生に関する問で、誤っているものは？ （1）X線管の内部は、効率的にX線を発生させるため、高濃度の真空になっている。 （2）陰極で発生する熱電子の数は、フィラメント電流を変えることで制御される。 （3）陰極のターゲットはX線管の軸に対して斜めになっており、X線が発生する領域である実焦点より、これをX線束の利用方向からみた実行焦点の方が小さくなるようにしてある。 （4）連続X線の発生効率は、ターゲット元素の原子番号と管電圧の2乗との積に比例する。 （5）管電圧がターゲット元素に固有の励起電圧を超える場合、発生するX線は、制動放射による連続X線と線スペクトルを示す特性X線が混在したものになる。

X線に関して、誤っているものは？ （1）X線は、間接電離放射線である。 （2）特性X線は原子核のエネルギー順位の推移に伴い、原子核から放出される。 （3）特性X線を発生させるために必要な管電圧の最小値を、励起電圧という。 （4）特性X線は、ターゲット元素に特有な波長を持つ。 （5）K系列の特性X線は、管電圧を上げると強度が増大するが、その波長は変わらない。

図は、あるX線装置から発生するX線エネルギー分布を示したもので、①の曲線は、通常照射時のエネルギー分布を示したものである。 このX線装置の照射条件を変化させた場合に、曲線②及び曲線③となる条件の組合せはどれか？ A 管電圧は一定にし、管電流を増加させる。 B 管電圧は一定にし、管電流を減少させる。 C 管電圧を上げ、管電流は一定にする。 D 管電圧を上げ、管電流も増加させる。 E 管電圧を下げ、管電流は一定にする。 　　　② ③ （1） A B （2） A E （3） B D （4） C D （5） C E

あるX線装置のX線管の焦点から1m離れた点における1cm線量当量率は8mSv/minであった。 このX線装置を用い、厚さ24mmの鋼板及び厚さ40mmのアルミ板にそれぞれ別々に照射したところ、浸透したX線の1cm線量当量率はいずれも2mSv/minであった。 厚さ15 mm の鋼板と厚さ15 mm のアルミニウム板を重ね合わせ30 mm とした板に照射した場合、透過後の１ cm 線量当量率は次のうちどれか。 ただし、エックス線は細い線束とし、測定点はいずれもエックス線管の焦点から１ m 離れた点とする。 また、鋼板及びアルミニウム板を透過した後の実効エネルギーは、透過前と 変わらないものとし、散乱線による影響は無いものとする。 （1）0.1mSv/min （2）0.5mSv/min （3）1.0mSv/min （4）1.5mSv/min （5）2.0mSv/min

X線の散乱に関して、各記号に当てはまる組み合わせは? 　X線装置を用い、管電圧200kVで、厚さ20mmの鋼板及びアルミ板のそれぞれにX線ビームを垂直に照射し、散乱角135°方向の散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定し、その大きさを比較したところ、（A）の後方散乱線の方が小さかった。 　次に、同じ照射条件で、鋼板について、散乱角120°及び135°の方向の後方散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定し、その大きさを比較したところ、（B）の方向の方が小さかった。 　また、同じ照射条件で、鋼板について、散乱角30°及び60°の方向の前方散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定し、その大きさを比較したところ、（C）の方向の方が小さかった。 　　　（A）　 （B）（C） （1）アルミ板　120°　60° （2）アルミ板　135°　30° （3）アルミ板　135°　60° （4）鋼板　　　120°　60° （5）鋼板　　　135°　30°

X線と物質との相互作用で、誤っているものは？ （1）入射X線のエネルギーが中性子1個の静止質量に相当するエネルギー以上になると、電子及び陽電子を生じる電子対生成が起こるようになる。 （2）コンプトン効果とは、X線光子と原子の軌道電子とが衝突し、電子が原子の外に飛び出し、光子が運動の方向を変える現象である。 （3）コンプトン効果による散乱X線は、入射X線のエネルギーがたかくなるほど前方に散乱されやすくなる。 （4）光電効果とは、原子の軌道電子がX線光子のエネルギーを吸収して原子の外に飛出し、光子が消滅する現象である。 （5）光電効果が起こる確率は、X線のエネルギーが高くなるほど低下する。

X線束が物体を透過するときの減弱に関する記述で、正しいものは？ （1）半価層の値は、1MeV程度以下のエネルギー範囲では、X線のエネルギーが高くなるほど小さくなる。 （2）軟X線の場合は、硬X線の場合より半価層の値は、大きくなる。 （3）鉄の半価層は、鉛の半価層より小さい。 （4）半価層h（cm）は、減弱係数μ（cm-¹）に反比例する。 （5）半価層の10倍の厚さでは、X線の強度は20の1になる。

X線装置を用いて透過写真撮影を行う場合のX線の遮へい及び散乱線の低減に関する記述で、誤っているものは？ （1）遮へい体には、原子番号が大きく、密度の高い物質を用いるのが良い。 （2）コンクリートの遮へい体は、同程度の遮へい効果を得るために2倍の厚さが必要であるが、施工が容易で安価であるため広く用いられる。 （3）照射筒は、照射口に取り付けるラッパ状の遮へい体で、X線束及び散乱線が外部へ漏洩しないようにするために用いられる。 （4）絞りは、X線束の広がりを制限し、X線を必要な部分にだけ照射するために用いる。 （5）ろ過板は、被写体からの後方散乱線の低減に効果がある。

X線を利用した各種試験装置の記述で、誤っているものは？ （1）蛍光X線分析装置は、試料にしたX線を照射して特性X線（蛍光X線）の波長を分析し、またはエネルギーを測定することによって、元素分析を行う装置である。 （2）X線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線束を試料の微小部分に照射し、発生する特性X線を分光することによって、微小部分の元素を分析する装置である。 （3）X線回折装置は、結晶質の物質にX線を照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析し、物質の性質を調べる装置である。　 （4）X線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をX線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。 （5）散乱型厚さ計は、X線を照射したときに発生する前方散乱線が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。