物理的原理と関連知識
問題一覧
1
溶接部に対してX線検査がASMEボイラーコードに加えられ、規定されたのは1931年であった。
2
120年
3
1930年代
4
マイクロ波>赤外線>可視光>紫外線>x線及びガンマ線
5
電離放射線によって、空気中に生成される電荷量
6
X線やガンマ線による障害は、細胞内の染色体が損傷されることによって起きる。
7
装置から発生するX線のエネルギーは人為的にコントロールできるが、ガンマ線源のエネルギーはコントロールできない。
8
放射性同意元素は、1秒間に壊変する原子の個数を表す
9
1.8
10
線減弱係数μを吸収体の密度でそうした値を質量減弱係数μという。μは吸収体を構成する元素の原子番号Zと放射線のエネルギーに関係する量で、原子番号とエネルギーが決まれば線減弱係数も定まる。
11
62
12
X線とガンマ線とは、いずれも電磁波である。 原子核の壊変に付随して発生する電磁波はガンマ線である。
13
硬いX線とは、波長が長く透過力が弱い。軟らかいX線とは、透過力が強く、波長が短い。
14
特性X線
15
原子が励起状態から安定状態になるときに発生する。 元素によって決まるいくつかの一定のエネルギーからなる線スペクトルである。 元素分析に用いられる。
16
同一半価層を有する単色X線のエネルギーである。
17
線量率定数、半減期、エネルギー、比放射能
18
Seのガンマ線は軌道電子捕獲による壊変の過程で放出される。
19
Cs
20
横軸を均等目盛とし、縦軸を対数目盛として表すと線図は直線となる。
21
300GBq
22
74日
23
30%長くする。
24
ガンマ線を使用した透過試験での露出量のコントロールは、照射時間と線源フィルム間距離によって行われる。
25
線量率定数には、空気衝突カーマ率定数と1cm線量当量率定数がある。
26
同じ半価層を持つ単一ガンマ線のエネルギーである。
27
散乱体が厚くなっても、散乱線量率が比例的に増えるため、散乱比は板厚との一次式で表せる。
28
コンプトン散乱線は、散乱角が大きくなるほど、そのエネルギーの減少分は大きい。
29
散乱は電子との相互作用であるから、吸収体の厚さが増すほど、入射するX線の照射野が大きくなるほど電子数が増えるため、散乱比は大きくなる。
30
0.35
31
鋳造、鍛造、焼結などの製造方法が異なると、製品の密度が変わってくるのでμ/ρを質量減弱係数と言う。
32
コンプトン散乱
33
X線フィルムは、直接にX線やガンマ線によって感光するノンスクリーン形のフィルムと、蛍光体と組み合わせて蛍光体から発光する光により感光するスクリーン形のフィルムがある。
34
定着処理を完了したX線フィルムは、水洗を十分に行えば、画像が変色または褐色になる事は無い。
35
余盛付試験体の撮影条件を決定する場合、X線フィルムの線量特性曲線及び露出線図を利用して透過写真の濃度範囲を満足するかどうかを一応の目安として確認することができる。
36
X線フィルムの特性曲線を用いてX線フィルムの濃度修正ができる。すなわち、濃度に対する露出量の比は感光材料が同一であればX線装置、管電圧、線源フィルム間距離及び試験体の材質に関係なく実用露出範囲内で一定であるため、この関係を使って変更後の露出量が算出できる。
37
線径がある値以上の場合は、識別限界コントラストは一定の値となる。
38
二次電子
39
軟X線により撮影する場合は、鉛箔増感紙を使用しない。これはこの管電圧以下では増加効果がなく、また使用するとμ値が変わるためである。
40
X線装置の実効焦点の像は、ピンホールカメラを用いて撮影することができる。
41
ブローホールは、CO、H2などの溶接金属中のガスが、逃げ切れない間に凝固し、内部に残って気泡となったり、表面に凹みを生じたりしたものである。
42
傷に生じる応力集中は、構造物の強度低下させる。
43
溶込み不良は、完全に溶け込まなければならない完全溶込み溶接継ぎ手において、開先角度が狭すぎたり、溶接電流がなどの溶接条件が不適切なために発生する傷である。
44
低温割れは、溶接継手の急冷による硬化組織の生成、拡散性水素の存在、継手の拘束応力が主な原因であり、約300℃以下の比較的低い温度になってから生じる割れである。
45
鋳物の表面及び内部には、砂型の脱落で砂かみが生じ、またスラグが湯口から入り込んで介在物が生じる。
46
ピンホール、ブローホールは凝固時に溶湯から放出されたガス、鋳型から発生したガス、注湯時に巻き込まれた数が、鋳鋼品中から浮上しきれずに残存したものである。
47
15〜50mm
48
X線を発生させる装置には、低エネルギーのX線を発生させるX線管を使用した装置と、高エネルギーのX線を発生させる粒子加速器を使用した装置がある。
49
ろ過板は、低エネルギーのX線を吸収させ不要なX線を低減させる目的のものである。
50
焦点寸法が0.5mmの装置は、①に分類される。
51
③により、20倍程度の拡大撮影は可能である。
52
回転陽極方式の管球は医療用によく利用され、発生管電流値も大きく設定できる。
53
マイクロフォーカスX線で拡大撮影する時、装置の振動などで不鮮明な透過画像になる場合もある。
54
電磁コイルにて電磁束を最小になるように絞っているが、そのコイルに流す電圧電流内に変動が生じた。
55
①と②のX線管の構造は、大差がない。
56
X線発生器には、密閉管式と開放管式があるが、ポータブル式X線発生装置は密閉管式が多い。
57
一般に軟X線装置は、管電圧100kV以下の装置が多い。
58
ロッドアノート型X線装置は、マイクロフォーカスX線装置と同様に開放管式の場合、常時真空引きしなければならない。
59
全波整流方式に比べ高周波直流化制御は同じ電圧、電流でも放射線エネルギーが高い。
60
一般に、焦点寸法と言えば、実焦点を言う。
61
JIS Z 3104 X線装置は、低エネルギー、中エネルギー、高エネルギーX線装置に分類されている。
62
近くに溶接機等の磁界を発生する装置を同時に使用した場合、仕様通りの放射線が発生しない場合がある。
63
対象とするパイプの管径によるが、パノラマ照射仕様のX線装置が使用され、一度に円周溶接部を一回の照射で撮影できる。
超音波探傷試験
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1
溶接部に対してX線検査がASMEボイラーコードに加えられ、規定されたのは1931年であった。
2
120年
3
1930年代
4
マイクロ波>赤外線>可視光>紫外線>x線及びガンマ線
5
電離放射線によって、空気中に生成される電荷量
6
X線やガンマ線による障害は、細胞内の染色体が損傷されることによって起きる。
7
装置から発生するX線のエネルギーは人為的にコントロールできるが、ガンマ線源のエネルギーはコントロールできない。
8
放射性同意元素は、1秒間に壊変する原子の個数を表す
9
1.8
10
線減弱係数μを吸収体の密度でそうした値を質量減弱係数μという。μは吸収体を構成する元素の原子番号Zと放射線のエネルギーに関係する量で、原子番号とエネルギーが決まれば線減弱係数も定まる。
11
62
12
X線とガンマ線とは、いずれも電磁波である。 原子核の壊変に付随して発生する電磁波はガンマ線である。
13
硬いX線とは、波長が長く透過力が弱い。軟らかいX線とは、透過力が強く、波長が短い。
14
特性X線
15
原子が励起状態から安定状態になるときに発生する。 元素によって決まるいくつかの一定のエネルギーからなる線スペクトルである。 元素分析に用いられる。
16
同一半価層を有する単色X線のエネルギーである。
17
線量率定数、半減期、エネルギー、比放射能
18
Seのガンマ線は軌道電子捕獲による壊変の過程で放出される。
19
Cs
20
横軸を均等目盛とし、縦軸を対数目盛として表すと線図は直線となる。
21
300GBq
22
74日
23
30%長くする。
24
ガンマ線を使用した透過試験での露出量のコントロールは、照射時間と線源フィルム間距離によって行われる。
25
線量率定数には、空気衝突カーマ率定数と1cm線量当量率定数がある。
26
同じ半価層を持つ単一ガンマ線のエネルギーである。
27
散乱体が厚くなっても、散乱線量率が比例的に増えるため、散乱比は板厚との一次式で表せる。
28
コンプトン散乱線は、散乱角が大きくなるほど、そのエネルギーの減少分は大きい。
29
散乱は電子との相互作用であるから、吸収体の厚さが増すほど、入射するX線の照射野が大きくなるほど電子数が増えるため、散乱比は大きくなる。
30
0.35
31
鋳造、鍛造、焼結などの製造方法が異なると、製品の密度が変わってくるのでμ/ρを質量減弱係数と言う。
32
コンプトン散乱
33
X線フィルムは、直接にX線やガンマ線によって感光するノンスクリーン形のフィルムと、蛍光体と組み合わせて蛍光体から発光する光により感光するスクリーン形のフィルムがある。
34
定着処理を完了したX線フィルムは、水洗を十分に行えば、画像が変色または褐色になる事は無い。
35
余盛付試験体の撮影条件を決定する場合、X線フィルムの線量特性曲線及び露出線図を利用して透過写真の濃度範囲を満足するかどうかを一応の目安として確認することができる。
36
X線フィルムの特性曲線を用いてX線フィルムの濃度修正ができる。すなわち、濃度に対する露出量の比は感光材料が同一であればX線装置、管電圧、線源フィルム間距離及び試験体の材質に関係なく実用露出範囲内で一定であるため、この関係を使って変更後の露出量が算出できる。
37
線径がある値以上の場合は、識別限界コントラストは一定の値となる。
38
二次電子
39
軟X線により撮影する場合は、鉛箔増感紙を使用しない。これはこの管電圧以下では増加効果がなく、また使用するとμ値が変わるためである。
40
X線装置の実効焦点の像は、ピンホールカメラを用いて撮影することができる。
41
ブローホールは、CO、H2などの溶接金属中のガスが、逃げ切れない間に凝固し、内部に残って気泡となったり、表面に凹みを生じたりしたものである。
42
傷に生じる応力集中は、構造物の強度低下させる。
43
溶込み不良は、完全に溶け込まなければならない完全溶込み溶接継ぎ手において、開先角度が狭すぎたり、溶接電流がなどの溶接条件が不適切なために発生する傷である。
44
低温割れは、溶接継手の急冷による硬化組織の生成、拡散性水素の存在、継手の拘束応力が主な原因であり、約300℃以下の比較的低い温度になってから生じる割れである。
45
鋳物の表面及び内部には、砂型の脱落で砂かみが生じ、またスラグが湯口から入り込んで介在物が生じる。
46
ピンホール、ブローホールは凝固時に溶湯から放出されたガス、鋳型から発生したガス、注湯時に巻き込まれた数が、鋳鋼品中から浮上しきれずに残存したものである。
47
15〜50mm
48
X線を発生させる装置には、低エネルギーのX線を発生させるX線管を使用した装置と、高エネルギーのX線を発生させる粒子加速器を使用した装置がある。
49
ろ過板は、低エネルギーのX線を吸収させ不要なX線を低減させる目的のものである。
50
焦点寸法が0.5mmの装置は、①に分類される。
51
③により、20倍程度の拡大撮影は可能である。
52
回転陽極方式の管球は医療用によく利用され、発生管電流値も大きく設定できる。
53
マイクロフォーカスX線で拡大撮影する時、装置の振動などで不鮮明な透過画像になる場合もある。
54
電磁コイルにて電磁束を最小になるように絞っているが、そのコイルに流す電圧電流内に変動が生じた。
55
①と②のX線管の構造は、大差がない。
56
X線発生器には、密閉管式と開放管式があるが、ポータブル式X線発生装置は密閉管式が多い。
57
一般に軟X線装置は、管電圧100kV以下の装置が多い。
58
ロッドアノート型X線装置は、マイクロフォーカスX線装置と同様に開放管式の場合、常時真空引きしなければならない。
59
全波整流方式に比べ高周波直流化制御は同じ電圧、電流でも放射線エネルギーが高い。
60
一般に、焦点寸法と言えば、実焦点を言う。
61
JIS Z 3104 X線装置は、低エネルギー、中エネルギー、高エネルギーX線装置に分類されている。
62
近くに溶接機等の磁界を発生する装置を同時に使用した場合、仕様通りの放射線が発生しない場合がある。
63
対象とするパイプの管径によるが、パノラマ照射仕様のX線装置が使用され、一度に円周溶接部を一回の照射で撮影できる。