超音波探傷試験II

X開先の溶込み不良の検出には、タンデム探傷法が適している。

溶接金属内の横割れの検出には、屈折角70°の斜め平行走査による斜角探傷が適している。

ブローホールは、溶着金属内全域に発生する。

被覆アーク溶接の多層盛溶接では、表面側の溶接後、裏側の溶接を行う前に、溶込み不良等の傷を除去するために、ガウジング等の溶接金属を削り取ることが多い。

使用する探触子のQ値は、使用する超音波探傷器と探触子との組み合わせで1.8〜3.3の範囲とする。

厚さ13mm未満の鋼板では、ニ振動子垂直探触子を適用する。

厚さ75mmを超える場合、屈折角58度〜67度のほかに45度併用するのは、傷位置を精度よく検出するためである。

ニ振動垂直探触子は、送信パルスの影響を受けないため、表面近くの傷の検出や薄物の厚さ測定に適している。

多重エコー式は、底面エコーの多重反射で厚さを測定するため、零点調整は必要ない。

表示値が、推定した厚さの1/2程度の値を指示した場合、非金属介在物等の内在傷が影響している場合がある。

対比試験片RB-41Aは、横穴を基準反射源としている。

炭素繊維強化プラスチックは減衰が大きいので、透過法が有効である。

X開先両面溶接の内部溶け込み不良の検出に適している。

不完全接合部の検出は、2つの探触子を用いたK走査による。

V透過法を用いれば、試験体の減衰係数の測定ができる。

試験体の減衰係数が明らかにSTB-A1と違う場合には、探傷感度の調整に使用することはできない。

探傷器の2点調整機能を利用する場合、少なくても2つ以上のエコーがないと測定範囲は調整できない。

測定範囲の調整には、STB-A1の他にSTB-A3 形系標準試験片も使用できる。

減衰が少ないものや、表面が平滑な試験体には、試験片方式による感度調整が適している。

STB-A2でエコー高さ区分線を作成し、探傷感度の調整を行う場合、公称屈折角によって調整方法が異なる。

試験周波数や帯域幅の選定を誤ると、波形が歪んだり、エコー高さが十分得られないことがある。

探傷の目的に応じて、ゲートの起点や幅、高さを適切に調整する必要がある。

最初に探傷面から深さ5mmにある横穴を1/10Sで捕らえる。

材料に大きな減衰がある場合は、補正しなければならない。

STB-N1の標準穴で調整したゲイン値から15dB高める。

小さな傷は、波長が短いほど検出しやすい。

傷個数を評価する時、重傷(×)と軽傷(○)は中傷(△)に換算して評価する。

傷の分類が同じであっても、試験体の板厚により傷の指示長さの範囲は異なる。

JIS Z 3060では、斜角探触子の不感帯が、公称周波数及び振動子の公称寸法ごとに各々定められている。

JIS G 0801での増幅直線性の測定方法は、JIS Z 3060と同じである。

増幅直線性は、JIS Z 3060と同じく±3%以内と規定されている。

使用するNDT方法に適応するNDT技法を選択する。

最小限の訓練要求時間は、どのNDT方法においてもレベル1よりレベル2の方が多い。

レベル2の認証では、一般試験、専門試験及び実技試験に合格しなければならない。

採取した探傷データから反射源の位置を求め、溶接部の横断面形状図に重ね合わせて傷エコーか疑似指示かを判断する。

幅の狭い試験体、細長い試験体に対して垂直探傷を行った場合、底面エコーの後に現れる一定間隔のエコーを遅れエコーと言う。

探触子の試験体への接触面積が小さくなって指向性が鋭くなるため発生する。

減衰の小さな材料で、パルス繰返し周波数を高く設定したため検出された。

試験周波数を低くすると結晶粒界での散乱が減るため、林状エコーを軽減することができる。

遅れエコーは、幅の狭い試験体や細長い試験体に現れやすい疑似指示である。