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6.1 超音波探傷器の調整

6.1 超音波探傷器の調整
22問 • 1年前
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    問題一覧

  • 1

    次の文は,超音波探傷器のゲイン調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    表示器上のエコーの高さを変化させることができる。

  • 2

    次の文は,超音波探傷器の表示器から得られる情報について述べたものである。正し いものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷図形におけるエコーのビーム路程は,反射源の位置情報となる。

  • 3

    次の文は, 超音波探傷器の測定範囲調整機能について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。

  • 4

    次の文は, 超音波探傷装置及び超音波探傷器について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷器には, 探触子から超音波を送信し、 探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。

  • 5

    次の文は, 5Z20N の探触子を用いて測定範囲を125mm に調整する方法について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    STB-A1の25mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し, B₁と B₂ のビーム路程差が表示器上 25.0mm になるように音速値を調整する。その後B₁ のビーム路程が 25.0mmと なるように零点を調整する。

  • 6

    次の文は, 超音波探傷における探傷機器と斜角探触子について述べたものである。正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    超音波探傷器は、 探傷を開始する前に, 測定範囲と感度を調整しておかなければならない。

  • 7

    次の文は, 超音波探傷における探傷装置の調整について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    測定範囲の調整は, STB-A1で行うが、 垂直探傷では, STB-N1 で行うこともある。

  • 8

    次の文は, 超音波探傷器の表示器上のエコー高さの調整方法について述べたものであ る。正しいものを一つ選び、記号で答えよ。 

    ゲイン調整機能で変えることができる。

  • 9

    次の文は,超音波探傷器の測定範囲調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。

  • 10

    次に示す, [1]~[6] の探傷図形は, STB-A1と垂直探触子 (5C20N) を使用して 測定範囲を調整したときの探傷図形である。 それぞれの表示器上の測定範囲はいくらか。 正 しいものを解答群からそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。

    [1]b, [2]d, [3]c, [4]b, [5]c, [6]b

  • 11

    次の文は,超音波探傷器の表示器上の探傷図形を変化させる調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    測定範囲調整機能は,表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。

  • 12

    次の文は, 探傷装置の性能について述べたものである。 正しいものを一つ選び,記号で答えよ。

    近距離分解能が低下すると, 探傷面に近いきずを見逃すことがある。

  • 13

    次の文は, 超音波探傷における探傷感度の調整について述べたものである。 文中の [1]~[3] に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。 (試験片方式とは標準試験片などを使用し, その [1] からのエコー高さが定められた高さ になるように探傷器の [2] を調整する方式である。しかし、この方式は試験体の表面状態や [3] の影響を受ける。)

    [1]標準穴, [2]感度, [3]散乱減衰

  • 14

    次の文は,超音波探傷における探傷感度の調整について述べたものである。 文中の [1]~[4] に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び、記号で答えよ。 (底面エコー方式とは試験体の [1] 部における [2] エコー高さが一定になるように探傷 感度を調整する方式である。この方式によって探傷し,試験体のきずの程度を推定しようと するものであるが,材料による [3] の影響をあまりうけないが,そのかわりに底面が平行 でないものや, 底面に [4] のあるものには適用できない。)

    [1]健全, [2]底面, [3]散乱減衰, [4]凹凸

  • 15

    次の図は、 斜角探触子の入射点を測定するために, STB-A1のR100mm の中心付近 に探触子を置き R100mm の面に向けて, 探触子を前後走査し, エコー高さが最大になった ところで探触子を止め、入射点のマークをしたところを拡大して示したものである。 入射点 のマークの正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    a

  • 16

    次の文は、 斜角探傷の入射点の測定について述べたものである。 [1] ~ [8] に適する 語句又は数値を解答群からそれぞれ一つ選び、記号で答えよ。 (斜角探触子の入射点を測定するには, STB-A1 の R [1] mm の面に向けて, STB-A1 の 側面 (幅 [2] mm の面) に探触子を置き, 探触子を [3] 走査し, エコー高さが [4] に なったところで探触子を止めたとき,半径[5] mm の中心を示す線に対応する探触子の位 置が入射点である。 この場合, 探触子が反射面に正対していることを確認するため, 探触子 を [6] 走査して, R [7] mm 面の [8] からのエコーでないことを確認しておかなくては ならない。)

    [1]100, [2]25, [3]前後, [4]最大, [5]100, [6]首振り, [7]100, [8]かど

  • 17

    次の文は, JIS Z 3060 によって鋼溶接部の斜角探傷を行う場合の, STB-A2 を用い た探傷感度の調整方法について述べたものである。 正しいものを一つ選び、 記号で答えよ。

    5C10 × 10A65 の探触子を用いて調整する場合は,Ø4↓4mm (Ø4×4mm)の標準穴からのエコー高さを M線に合わせる。

  • 18

    次の図は, 5Z10 × 10A70 の斜角探触子で, STB-A1のR100mm 面を用いて測定範 囲を250mmに調整したときの探傷図形である。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    a

  • 19

    次の図は, STB-A1にある直径1.5mm の貫通穴を STB 屈折角70度の探触子で探傷 した場合の探触子位置と探傷図形を示したものである。 正しい探傷図形を一つ選び, 記号で答えよ。 なお, 測定範囲は125mm に調整してある。

    c

  • 20

    次の文は,鋼溶接部の斜角探傷における, 探傷装置の調整要領について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    測定範囲の調整は, STB-A32のR100mm と R50 mm の曲面部分を利用して行う。

  • 21

    次の文は, JIS Z 3060 により鋼溶接部の斜角探傷を行うための準備作業について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは, ケレン棒などにより除去する。

  • 22

    鋼溶接部の斜角探傷において、 探傷のための溶接部探触子距離のけがき線は溶接線 に平行に,片面両側のそれぞれ0.5S と 1S の位置に描く。 けがき線の位置を計算する式と して,正しいものをそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。 ただし, Yはけがき線の位置, t は 板厚, θ は屈折角である。 [1] 0.5 スキップの位置の計算式  [2] 1スキップの位置の計算式 

    [1]Y=t×tanθ, [2]Y=2×t×tanθ

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    問題一覧

  • 1

    次の文は,超音波探傷器のゲイン調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    表示器上のエコーの高さを変化させることができる。

  • 2

    次の文は,超音波探傷器の表示器から得られる情報について述べたものである。正し いものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷図形におけるエコーのビーム路程は,反射源の位置情報となる。

  • 3

    次の文は, 超音波探傷器の測定範囲調整機能について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。

  • 4

    次の文は, 超音波探傷装置及び超音波探傷器について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷器には, 探触子から超音波を送信し、 探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。

  • 5

    次の文は, 5Z20N の探触子を用いて測定範囲を125mm に調整する方法について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    STB-A1の25mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し, B₁と B₂ のビーム路程差が表示器上 25.0mm になるように音速値を調整する。その後B₁ のビーム路程が 25.0mmと なるように零点を調整する。

  • 6

    次の文は, 超音波探傷における探傷機器と斜角探触子について述べたものである。正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    超音波探傷器は、 探傷を開始する前に, 測定範囲と感度を調整しておかなければならない。

  • 7

    次の文は, 超音波探傷における探傷装置の調整について述べたものである。正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    測定範囲の調整は, STB-A1で行うが、 垂直探傷では, STB-N1 で行うこともある。

  • 8

    次の文は, 超音波探傷器の表示器上のエコー高さの調整方法について述べたものであ る。正しいものを一つ選び、記号で答えよ。 

    ゲイン調整機能で変えることができる。

  • 9

    次の文は,超音波探傷器の測定範囲調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。

  • 10

    次に示す, [1]~[6] の探傷図形は, STB-A1と垂直探触子 (5C20N) を使用して 測定範囲を調整したときの探傷図形である。 それぞれの表示器上の測定範囲はいくらか。 正 しいものを解答群からそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。

    [1]b, [2]d, [3]c, [4]b, [5]c, [6]b

  • 11

    次の文は,超音波探傷器の表示器上の探傷図形を変化させる調整機能について述べたものである。 正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    測定範囲調整機能は,表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。

  • 12

    次の文は, 探傷装置の性能について述べたものである。 正しいものを一つ選び,記号で答えよ。

    近距離分解能が低下すると, 探傷面に近いきずを見逃すことがある。

  • 13

    次の文は, 超音波探傷における探傷感度の調整について述べたものである。 文中の [1]~[3] に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。 (試験片方式とは標準試験片などを使用し, その [1] からのエコー高さが定められた高さ になるように探傷器の [2] を調整する方式である。しかし、この方式は試験体の表面状態や [3] の影響を受ける。)

    [1]標準穴, [2]感度, [3]散乱減衰

  • 14

    次の文は,超音波探傷における探傷感度の調整について述べたものである。 文中の [1]~[4] に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び、記号で答えよ。 (底面エコー方式とは試験体の [1] 部における [2] エコー高さが一定になるように探傷 感度を調整する方式である。この方式によって探傷し,試験体のきずの程度を推定しようと するものであるが,材料による [3] の影響をあまりうけないが,そのかわりに底面が平行 でないものや, 底面に [4] のあるものには適用できない。)

    [1]健全, [2]底面, [3]散乱減衰, [4]凹凸

  • 15

    次の図は、 斜角探触子の入射点を測定するために, STB-A1のR100mm の中心付近 に探触子を置き R100mm の面に向けて, 探触子を前後走査し, エコー高さが最大になった ところで探触子を止め、入射点のマークをしたところを拡大して示したものである。 入射点 のマークの正しいものを一つ選び、記号で答えよ。

    a

  • 16

    次の文は、 斜角探傷の入射点の測定について述べたものである。 [1] ~ [8] に適する 語句又は数値を解答群からそれぞれ一つ選び、記号で答えよ。 (斜角探触子の入射点を測定するには, STB-A1 の R [1] mm の面に向けて, STB-A1 の 側面 (幅 [2] mm の面) に探触子を置き, 探触子を [3] 走査し, エコー高さが [4] に なったところで探触子を止めたとき,半径[5] mm の中心を示す線に対応する探触子の位 置が入射点である。 この場合, 探触子が反射面に正対していることを確認するため, 探触子 を [6] 走査して, R [7] mm 面の [8] からのエコーでないことを確認しておかなくては ならない。)

    [1]100, [2]25, [3]前後, [4]最大, [5]100, [6]首振り, [7]100, [8]かど

  • 17

    次の文は, JIS Z 3060 によって鋼溶接部の斜角探傷を行う場合の, STB-A2 を用い た探傷感度の調整方法について述べたものである。 正しいものを一つ選び、 記号で答えよ。

    5C10 × 10A65 の探触子を用いて調整する場合は,Ø4↓4mm (Ø4×4mm)の標準穴からのエコー高さを M線に合わせる。

  • 18

    次の図は, 5Z10 × 10A70 の斜角探触子で, STB-A1のR100mm 面を用いて測定範 囲を250mmに調整したときの探傷図形である。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    a

  • 19

    次の図は, STB-A1にある直径1.5mm の貫通穴を STB 屈折角70度の探触子で探傷 した場合の探触子位置と探傷図形を示したものである。 正しい探傷図形を一つ選び, 記号で答えよ。 なお, 測定範囲は125mm に調整してある。

    c

  • 20

    次の文は,鋼溶接部の斜角探傷における, 探傷装置の調整要領について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    測定範囲の調整は, STB-A32のR100mm と R50 mm の曲面部分を利用して行う。

  • 21

    次の文は, JIS Z 3060 により鋼溶接部の斜角探傷を行うための準備作業について述べたものである。 正しいものを一つ選び, 記号で答えよ。

    探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは, ケレン棒などにより除去する。

  • 22

    鋼溶接部の斜角探傷において、 探傷のための溶接部探触子距離のけがき線は溶接線 に平行に,片面両側のそれぞれ0.5S と 1S の位置に描く。 けがき線の位置を計算する式と して,正しいものをそれぞれ一つ選び, 記号で答えよ。 ただし, Yはけがき線の位置, t は 板厚, θ は屈折角である。 [1] 0.5 スキップの位置の計算式  [2] 1スキップの位置の計算式 

    [1]Y=t×tanθ, [2]Y=2×t×tanθ