6.1 超音波探傷器の調整
問題一覧
1
表示器上のエコーの高さを変化させることができる。
2
探傷図形におけるエコーのビーム路程は,反射源の位置情報となる。
3
表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。
4
探傷器には, 探触子から超音波を送信し、 探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。
5
STB-A1の25mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し, B₁と B₂ のビーム路程差が表示器上 25.0mm になるように音速値を調整する。その後B₁ のビーム路程が 25.0mmと なるように零点を調整する。
6
超音波探傷器は、 探傷を開始する前に, 測定範囲と感度を調整しておかなければならない。
7
測定範囲の調整は, STB-A1で行うが、 垂直探傷では, STB-N1 で行うこともある。
8
ゲイン調整機能で変えることができる。
9
表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。
10
[1]b, [2]d, [3]c, [4]b, [5]c, [6]b
11
測定範囲調整機能は,表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。
12
近距離分解能が低下すると, 探傷面に近いきずを見逃すことがある。
13
[1]標準穴, [2]感度, [3]散乱減衰
14
[1]健全, [2]底面, [3]散乱減衰, [4]凹凸
15
a
16
[1]100, [2]25, [3]前後, [4]最大, [5]100, [6]首振り, [7]100, [8]かど
17
5C10 × 10A65 の探触子を用いて調整する場合は,Ø4↓4mm (Ø4×4mm)の標準穴からのエコー高さを M線に合わせる。
18
a
19
c
20
測定範囲の調整は, STB-A32のR100mm と R50 mm の曲面部分を利用して行う。
21
探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは, ケレン棒などにより除去する。
22
[1]Y=t×tanθ, [2]Y=2×t×tanθ
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1
表示器上のエコーの高さを変化させることができる。
2
探傷図形におけるエコーのビーム路程は,反射源の位置情報となる。
3
表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。
4
探傷器には, 探触子から超音波を送信し、 探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。
5
STB-A1の25mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し, B₁と B₂ のビーム路程差が表示器上 25.0mm になるように音速値を調整する。その後B₁ のビーム路程が 25.0mmと なるように零点を調整する。
6
超音波探傷器は、 探傷を開始する前に, 測定範囲と感度を調整しておかなければならない。
7
測定範囲の調整は, STB-A1で行うが、 垂直探傷では, STB-N1 で行うこともある。
8
ゲイン調整機能で変えることができる。
9
表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。
10
[1]b, [2]d, [3]c, [4]b, [5]c, [6]b
11
測定範囲調整機能は,表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。
12
近距離分解能が低下すると, 探傷面に近いきずを見逃すことがある。
13
[1]標準穴, [2]感度, [3]散乱減衰
14
[1]健全, [2]底面, [3]散乱減衰, [4]凹凸
15
a
16
[1]100, [2]25, [3]前後, [4]最大, [5]100, [6]首振り, [7]100, [8]かど
17
5C10 × 10A65 の探触子を用いて調整する場合は,Ø4↓4mm (Ø4×4mm)の標準穴からのエコー高さを M線に合わせる。
18
a
19
c
20
測定範囲の調整は, STB-A32のR100mm と R50 mm の曲面部分を利用して行う。
21
探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは, ケレン棒などにより除去する。
22
[1]Y=t×tanθ, [2]Y=2×t×tanθ