2022A-UT2 後 + 2022S-UT2
問題一覧
1
突合せ継手で片面両側から探傷を行う場合、探傷範囲は、直射法及び一回反射法の範囲である。
2
ボイラ
3
〔1〕a, 〔2〕a, 〔3〕a, 〔4〕c
4
〔1〕c, 〔2〕a
5
屈折角70度の探触子を使用する場合は、H線に探傷感度を合わせて探傷を行う。
6
エコー高さが100%のきずは、中きずで、表示記号は△となる。
7
φ3.2mm
8
探触子の屈折角70度を使用する場合、RB-41Aの標準穴のエコー高さをH線に調整する。
9
対比試験片としてSTB-G V3、STB-G V5、STB-G V8を用いることができる。
10
デジタル探傷器を用いて斜角探傷を行う場合、ビーム路程の読み取りはゲートで捉えられたエコーについて、表示部に示された数値を読み取るのがよい。
11
K走査探傷法とは、鉄筋圧接部の不完全接合部の検出に用いる探傷法である。
12
[1]:c, [2]:c, [3]:b, [4]:a
13
水距離は、試験体の厚さの1/4を超える距離にする。
14
底面エコー方式の感度調整による探傷では、試験片方式による感度調整よりも、きずを大きめに評価する傾向がある。
15
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面の粗さの影響を受けにくい。
16
標準試験片や対比試験片に加工されている標準穴は、決められた形状・寸法の穴であり、超音波探傷器の 感度調整などを行うとき標準反射源として用いる。
17
表示器上、80%のエコーに対し、ゲイン値を10dB下げると、そのエコーは25%になった。
18
DGS線図はSTB-Gのような円形平面きずに換算して評価するときに用いる。
19
d
20
c
21
c
22
デシベル低下法は、きずエコー高さの影響を受けにくい。
23
きず高さは、TOFD法や端部エコー法で測定することができる。
24
c
25
d
26
〔1〕a, 〔2〕d
27
[1]:b, [2]:b, [3]:c, [4]:c, [5]:b
28
[1]:b, [2]:c, [3]:c, [4]:d, [5]:c
29
減衰が小きい材料で、パルス繰返し周波数が高すぎると残留エコーが発生する。
30
接触媒質は、測定面の温度で十分性能を発揮する高温用の接触媒質を使用する。
31
超音波探傷器を用いて厚さ測定を行う場合、標準試験片あるいは調整用試験片による測定範囲の調整を行う必要がある。
32
板厚30mmを超える厚鋼板の探傷と同様に、F₁で評価すべきである。
33
林状エコーが多数発生する試験体の探傷では、広帯域探触子を用いる。
34
非破壊検査の資格試験に関する規格である。
35
〔1〕:c, 〔2〕:d, 〔3〕:c, 〔4〕:a, 〔5〕:b
36
探触子のくさびが摩耗、劣化及び損傷し、表示が不安定になる。
37
13.7
38
中心軸上の音圧は、振動子の面積に比例し、波長及び距離に反比例する。
39
幅が狭く長い試験体を長手方向に垂直探傷し、きずエコーを検出した場合、きずからの遅れエコーが発生する場合がある。
40
[1]:c, [2]:d, [3]:b, [4]:c
41
〔1〕c, 〔2〕a
42
ジルコンチタン酸鉛
43
周波数が高くなると指向角は小さくなる。
44
5Z20N
45
焼入れ焼戻しされた材料は、減衰が小さい。
46
0.12
47
〔1〕:a, 〔2〕:d, 〔3〕:c, 〔4〕:b
48
きずの指示長さは、1mm単位で測定する。
49
透過法は、送受二個の探触子を用いて探傷を行う。
50
端部エコー法によりきず高さを測定してきずを評価する場合、きずエコー高さの領域は無視してもよい。
51
16
52
溶接部を挟んで、送信及び受信用縦波斜角探触子を試験体表面に配置して、探傷する。
53
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
54
大型品が多く、メタルフローが複雑になっておりきずの方向性が複雑である。
55
横割れの検出には、可能であれば余盛を切削して溶接線上走査で行うのがよい。
56
溶接線上走査
57
ベベル角30度のV開先突合せ溶接部に発生する開先面の融合不良の検出には、屈折角60度の探触子 を用いて一回反射法で探傷するのがよい。
58
鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷 や斜角探傷も行う必要がある。
59
A面から探傷したときとB面から探傷したときのF/BFが大きく異なったので、面状の割れが長手方向に伸びたきずである。
60
きずときずの間隔の求め方は、実測の指示長さによらず別に定められた計算式で行う。
61
ジルコンチタン酸鉛は、変換効率が高いので高感度の探触子として使用される。
62
二振動子垂直探触子は、その特性から試験体の表面近くのきずの検出が可能である。
63
広帯域探触子は、ダンピングが大きく、パルス幅が狭いという特徴を持っている。
64
56.4
65
探触子ケーブルは作業性を重視し、柔らかく耐久性のあるものを選択するのがよい。
66
保護膜の厚さが変化すると、同じ反射源でもエコー高さが変化する。
67
斜角探触子の屈折角及び板厚を入力しておくと、斜角演算機能により、きずの深さ位置及び探触子きず距離を表示できる。
68
〔1〕a, 〔2〕b, 〔3〕c, 〔4〕d
69
不感帯とは送信パルスやくさび内エコーのため超音波探傷ができない領域のことをいう。
70
遠距離分解能とは、遠距離音場内にあるビーム路程の異なる2個の反射源からのエコーを区別して識別できる能力をいう。
71
グリセリンと油を比較するとグリセリンの方が伝達効率が高い。
72
マシン油は、防錆効果があり標準試験片に適用されるが、グリセリンに比べて超音波の伝達効率は低い。
73
専用の接触媒質を使用する。
74
標準試験片であっても、音速は個別に測定する必要がある。
75
一般に、V開先の溶込み不良は、ブローホールより高いエコー高さになる。
76
溶接部に発生するスラグ巻込みは、開先面や多層盛の層間に発生する。
77
JIS Z 3060に規定している領域とは、エコー高さを測定してきずを分類するために、表示器上に作成さ れたエコー高さの範囲をいう。
78
エコー高さ区分線の時間軸方向の作成範囲は、探傷に使用するビーム路程より大きい範囲とし、その 本数は3本以上とする。
79
RB-42 を用いて探傷感度を調整する。
80
RB-43 を用いて探傷感度を調整する。
81
RB-41A の標準穴は、板厚によってφ3.0mmとφ6.0mmの横穴がある。
82
反射率が最も低いのは、60度である。
83
1.024
84
V透過探傷法は、層間の融合不良の検出に有効である。
85
試験片方式による感度調整は、減衰の著しい試験体のとき、きずを過小評価する恐れがある。
86
〔1〕c, 〔2〕d
87
RB-41Aを用いて作成したエコー高さ区分線を使用して試験体の探傷を行う場合は感度補正の必要はない。
88
[1]c, [2]c, [3]a, [4]a
89
試験体の健全部の底面エコーを基準とする。
90
F/BGを用いる場合、健全部の底面エコー高さで感度調整すれば、同材質、同一形状の試験体について同一感度で探傷できる。
91
林状エコーは、試験体中の結晶粒界による超音波の散乱によって生じる。
92
減衰の小さい材料の探傷において、パルス繰返し周波数が高すぎたために発生した。
93
使用中の材料や構造物に発生する割れなどのきずの探傷が容易に可能である。
94
このきずの分類は4類である。
95
往復の間に側面に当たり、縦波から横波に、変換した超音波が段付き部などから反射して発生する。
96
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
97
測定範囲及び探傷感度は作業開始時、作業開始から4時間以内ごと及び作業終了時に点検し確認しなければならない。
WES2級(3)
WES2級(3)
ギャンヤンキャン · 100問 · 2年前WES2級(3)
WES2級(3)
100問 • 2年前WES2級(4)
WES2級(4)
ギャンヤンキャン · 100問 · 2年前WES2級(4)
WES2級(4)
100問 • 2年前1.1 NDT の目的.用語
1.1 NDT の目的.用語
ギャンヤンキャン · 15問 · 1年前1.1 NDT の目的.用語
1.1 NDT の目的.用語
15問 • 1年前2.1 超音波に関する基礎
2.1 超音波に関する基礎
ギャンヤンキャン · 17問 · 1年前2.1 超音波に関する基礎
2.1 超音波に関する基礎
17問 • 1年前2.2 波の種類
2.2 波の種類
ギャンヤンキャン · 10問 · 1年前2.2 波の種類
2.2 波の種類
10問 • 1年前2.3 超音波の反射・通過と屈折
2.3 超音波の反射・通過と屈折
ギャンヤンキャン · 16問 · 1年前2.3 超音波の反射・通過と屈折
2.3 超音波の反射・通過と屈折
16問 • 1年前2.5 超音波ビームの特性
2.5 超音波ビームの特性
ギャンヤンキャン · 9問 · 1年前2.5 超音波ビームの特性
2.5 超音波ビームの特性
9問 • 1年前2.6 きずによる超音波の反射
2.6 きずによる超音波の反射
ギャンヤンキャン · 7問 · 1年前2.6 きずによる超音波の反射
2.6 きずによる超音波の反射
7問 • 1年前3.1 超音波探傷方法 (一般)
3.1 超音波探傷方法 (一般)
ギャンヤンキャン · 26問 · 1年前3.1 超音波探傷方法 (一般)
3.1 超音波探傷方法 (一般)
26問 • 1年前3.2 製造プロセス及び供用中に発生する様々なきず (専門)
3.2 製造プロセス及び供用中に発生する様々なきず (専門)
ギャンヤンキャン · 15問 · 1年前3.2 製造プロセス及び供用中に発生する様々なきず (専門)
3.2 製造プロセス及び供用中に発生する様々なきず (専門)
15問 • 1年前3.3 対象となる適用品 (専門)
3.3 対象となる適用品 (専門)
ギャンヤンキャン · 34問 · 1年前3.3 対象となる適用品 (専門)
3.3 対象となる適用品 (専門)
34問 • 1年前4.1 超音波探触子と探触子ケーブル
4.1 超音波探触子と探触子ケーブル
ギャンヤンキャン · 29問 · 1年前4.1 超音波探触子と探触子ケーブル
4.1 超音波探触子と探触子ケーブル
29問 • 1年前4.2 超音波探傷器
4.2 超音波探傷器
ギャンヤンキャン · 34問 · 1年前4.2 超音波探傷器
4.2 超音波探傷器
34問 • 1年前4.3 接触媒質
4.3 接触媒質
ギャンヤンキャン · 6問 · 1年前4.3 接触媒質
4.3 接触媒質
6問 • 1年前4.4 標準試験片及び対比試験片
4.4 標準試験片及び対比試験片
ギャンヤンキャン · 42問 · 1年前4.4 標準試験片及び対比試験片
4.4 標準試験片及び対比試験片
42問 • 1年前5.1 NDT 指示書及び試験記録
5.1 NDT 指示書及び試験記録
ギャンヤンキャン · 6問 · 1年前5.1 NDT 指示書及び試験記録
5.1 NDT 指示書及び試験記録
6問 • 1年前5.2 探傷の目的
5.2 探傷の目的
ギャンヤンキャン · 9問 · 1年前5.2 探傷の目的
5.2 探傷の目的
9問 • 1年前6.1 超音波探傷器の調整
6.1 超音波探傷器の調整
ギャンヤンキャン · 22問 · 1年前6.1 超音波探傷器の調整
6.1 超音波探傷器の調整
22問 • 1年前6.3 測定範囲の調整及び感度の調整
6.3 測定範囲の調整及び感度の調整
ギャンヤンキャン · 10問 · 1年前6.3 測定範囲の調整及び感度の調整
6.3 測定範囲の調整及び感度の調整
10問 • 1年前6.4 きずの検出と測定
6.4 きずの検出と測定
ギャンヤンキャン · 22問 · 1年前6.4 きずの検出と測定
6.4 きずの検出と測定
22問 • 1年前6.6 その他の探傷方法
6.6 その他の探傷方法
ギャンヤンキャン · 6問 · 1年前6.6 その他の探傷方法
6.6 その他の探傷方法
6問 • 1年前7.1 きずの検出
7.1 きずの検出
ギャンヤンキャン · 6回閲覧 · 6問 · 1年前7.1 きずの検出
7.1 きずの検出
6回閲覧 • 6問 • 1年前2022A-UT2 前
2022A-UT2 前
ギャンヤンキャン · 100問 · 1年前2022A-UT2 前
2022A-UT2 前
100問 • 1年前2023-UT2
2023-UT2
ギャンヤンキャン · 3回閲覧 · 29問 · 1年前2023-UT2
2023-UT2
3回閲覧 • 29問 • 1年前問題一覧
1
突合せ継手で片面両側から探傷を行う場合、探傷範囲は、直射法及び一回反射法の範囲である。
2
ボイラ
3
〔1〕a, 〔2〕a, 〔3〕a, 〔4〕c
4
〔1〕c, 〔2〕a
5
屈折角70度の探触子を使用する場合は、H線に探傷感度を合わせて探傷を行う。
6
エコー高さが100%のきずは、中きずで、表示記号は△となる。
7
φ3.2mm
8
探触子の屈折角70度を使用する場合、RB-41Aの標準穴のエコー高さをH線に調整する。
9
対比試験片としてSTB-G V3、STB-G V5、STB-G V8を用いることができる。
10
デジタル探傷器を用いて斜角探傷を行う場合、ビーム路程の読み取りはゲートで捉えられたエコーについて、表示部に示された数値を読み取るのがよい。
11
K走査探傷法とは、鉄筋圧接部の不完全接合部の検出に用いる探傷法である。
12
[1]:c, [2]:c, [3]:b, [4]:a
13
水距離は、試験体の厚さの1/4を超える距離にする。
14
底面エコー方式の感度調整による探傷では、試験片方式による感度調整よりも、きずを大きめに評価する傾向がある。
15
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面の粗さの影響を受けにくい。
16
標準試験片や対比試験片に加工されている標準穴は、決められた形状・寸法の穴であり、超音波探傷器の 感度調整などを行うとき標準反射源として用いる。
17
表示器上、80%のエコーに対し、ゲイン値を10dB下げると、そのエコーは25%になった。
18
DGS線図はSTB-Gのような円形平面きずに換算して評価するときに用いる。
19
d
20
c
21
c
22
デシベル低下法は、きずエコー高さの影響を受けにくい。
23
きず高さは、TOFD法や端部エコー法で測定することができる。
24
c
25
d
26
〔1〕a, 〔2〕d
27
[1]:b, [2]:b, [3]:c, [4]:c, [5]:b
28
[1]:b, [2]:c, [3]:c, [4]:d, [5]:c
29
減衰が小きい材料で、パルス繰返し周波数が高すぎると残留エコーが発生する。
30
接触媒質は、測定面の温度で十分性能を発揮する高温用の接触媒質を使用する。
31
超音波探傷器を用いて厚さ測定を行う場合、標準試験片あるいは調整用試験片による測定範囲の調整を行う必要がある。
32
板厚30mmを超える厚鋼板の探傷と同様に、F₁で評価すべきである。
33
林状エコーが多数発生する試験体の探傷では、広帯域探触子を用いる。
34
非破壊検査の資格試験に関する規格である。
35
〔1〕:c, 〔2〕:d, 〔3〕:c, 〔4〕:a, 〔5〕:b
36
探触子のくさびが摩耗、劣化及び損傷し、表示が不安定になる。
37
13.7
38
中心軸上の音圧は、振動子の面積に比例し、波長及び距離に反比例する。
39
幅が狭く長い試験体を長手方向に垂直探傷し、きずエコーを検出した場合、きずからの遅れエコーが発生する場合がある。
40
[1]:c, [2]:d, [3]:b, [4]:c
41
〔1〕c, 〔2〕a
42
ジルコンチタン酸鉛
43
周波数が高くなると指向角は小さくなる。
44
5Z20N
45
焼入れ焼戻しされた材料は、減衰が小さい。
46
0.12
47
〔1〕:a, 〔2〕:d, 〔3〕:c, 〔4〕:b
48
きずの指示長さは、1mm単位で測定する。
49
透過法は、送受二個の探触子を用いて探傷を行う。
50
端部エコー法によりきず高さを測定してきずを評価する場合、きずエコー高さの領域は無視してもよい。
51
16
52
溶接部を挟んで、送信及び受信用縦波斜角探触子を試験体表面に配置して、探傷する。
53
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
54
大型品が多く、メタルフローが複雑になっておりきずの方向性が複雑である。
55
横割れの検出には、可能であれば余盛を切削して溶接線上走査で行うのがよい。
56
溶接線上走査
57
ベベル角30度のV開先突合せ溶接部に発生する開先面の融合不良の検出には、屈折角60度の探触子 を用いて一回反射法で探傷するのがよい。
58
鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷 や斜角探傷も行う必要がある。
59
A面から探傷したときとB面から探傷したときのF/BFが大きく異なったので、面状の割れが長手方向に伸びたきずである。
60
きずときずの間隔の求め方は、実測の指示長さによらず別に定められた計算式で行う。
61
ジルコンチタン酸鉛は、変換効率が高いので高感度の探触子として使用される。
62
二振動子垂直探触子は、その特性から試験体の表面近くのきずの検出が可能である。
63
広帯域探触子は、ダンピングが大きく、パルス幅が狭いという特徴を持っている。
64
56.4
65
探触子ケーブルは作業性を重視し、柔らかく耐久性のあるものを選択するのがよい。
66
保護膜の厚さが変化すると、同じ反射源でもエコー高さが変化する。
67
斜角探触子の屈折角及び板厚を入力しておくと、斜角演算機能により、きずの深さ位置及び探触子きず距離を表示できる。
68
〔1〕a, 〔2〕b, 〔3〕c, 〔4〕d
69
不感帯とは送信パルスやくさび内エコーのため超音波探傷ができない領域のことをいう。
70
遠距離分解能とは、遠距離音場内にあるビーム路程の異なる2個の反射源からのエコーを区別して識別できる能力をいう。
71
グリセリンと油を比較するとグリセリンの方が伝達効率が高い。
72
マシン油は、防錆効果があり標準試験片に適用されるが、グリセリンに比べて超音波の伝達効率は低い。
73
専用の接触媒質を使用する。
74
標準試験片であっても、音速は個別に測定する必要がある。
75
一般に、V開先の溶込み不良は、ブローホールより高いエコー高さになる。
76
溶接部に発生するスラグ巻込みは、開先面や多層盛の層間に発生する。
77
JIS Z 3060に規定している領域とは、エコー高さを測定してきずを分類するために、表示器上に作成さ れたエコー高さの範囲をいう。
78
エコー高さ区分線の時間軸方向の作成範囲は、探傷に使用するビーム路程より大きい範囲とし、その 本数は3本以上とする。
79
RB-42 を用いて探傷感度を調整する。
80
RB-43 を用いて探傷感度を調整する。
81
RB-41A の標準穴は、板厚によってφ3.0mmとφ6.0mmの横穴がある。
82
反射率が最も低いのは、60度である。
83
1.024
84
V透過探傷法は、層間の融合不良の検出に有効である。
85
試験片方式による感度調整は、減衰の著しい試験体のとき、きずを過小評価する恐れがある。
86
〔1〕c, 〔2〕d
87
RB-41Aを用いて作成したエコー高さ区分線を使用して試験体の探傷を行う場合は感度補正の必要はない。
88
[1]c, [2]c, [3]a, [4]a
89
試験体の健全部の底面エコーを基準とする。
90
F/BGを用いる場合、健全部の底面エコー高さで感度調整すれば、同材質、同一形状の試験体について同一感度で探傷できる。
91
林状エコーは、試験体中の結晶粒界による超音波の散乱によって生じる。
92
減衰の小さい材料の探傷において、パルス繰返し周波数が高すぎたために発生した。
93
使用中の材料や構造物に発生する割れなどのきずの探傷が容易に可能である。
94
このきずの分類は4類である。
95
往復の間に側面に当たり、縦波から横波に、変換した超音波が段付き部などから反射して発生する。
96
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
97
測定範囲及び探傷感度は作業開始時、作業開始から4時間以内ごと及び作業終了時に点検し確認しなければならない。