問題一覧
1
オーバーオールMTFより高い値になる, 画像の横方向と縦方向では同じ値になる
2
スリット法と比べてLSFの雑音が少ない
3
操作方向に対するスリットの配置が不適切であった
4
金属スリット長軸を画素列と平行にした
5
プリサンプリングMTFはエリアシングの影響を含まない, スリット像の線強度分布からフーリエ変換してMTFを求める
6
プリサンプリングMTFはエリアシングエラーを含む, 信号とサンプリングアパーチャとの位置不変性は成り立つ
7
デジタルMTF
8
画像の周波数処理を必要とする
9
フィルムのガンマ(γ)に比例する
10
コルトマン補正
11
0.4
12
1.2
13
特性曲線を用いてX線強度変換する, プリサンプリングMTFはアナログMTFである
14
検出器の不鋭の程度を表す, 検出器の解像度がわかる
15
スリットを撮影して得られた象の1次元分布である, 検出器の不鋭の程度を表す
16
エッジを撮影して得られた像の1次元分布である, 検出器のボケの程度を表す
17
PSFをある方向に積分するとその方向のLSFとなる, LSFのすそ野はノイズが多いが、カットするとトランケーションエラーとなる
18
画素値の線形化を行って測定する, 倍数露光法はスリット像の裾野部分を精度よく求めるのが目的である
19
デジタルMTF, オーバーオールMTF
20
プリサンプリングMTFはアナログMTFである
21
デジタルMTFはナイキスト周波数により形状が変わる
22
エッジ法によるMTFの測定にはフーリエ変換が用いられる
23
標本化周波数が入力信号の最大周波数より大きい時エリアシングは起きない
24
撮影線量
25
検出器の検出セルが小さい時MTFは低下する
26
エリアシングの影響を受ける
27
X線量子数Nの変動によって生じる雑音である
28
ウィンドウを狭めると粒状度が上がった, 特性曲線の傾きが下がり粒状性が良くなった
29
量子ノイズ, 光子ノイズ
30
ウィナースペクトルからRMS粒状度を計算できる, 高域強調フィルタ処理を行うとウィナースペクトルがあがる
31
X線量子ノイズの分散は量子数の平均値に等しい
32
NEQは検出器が利用できるX線量子の数である, DQEは周波数によって変動する
33
MTF(u)*2/WS(u)が一定でGが同じ検出器のDQEは等しい, NEQは量子数が増えると増加する
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すこん部、おにぎりゃー、スバ友 · 849回閲覧 · 105問 · 1年前画像工学(国試56〜76回)解説あり
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1
オーバーオールMTFより高い値になる, 画像の横方向と縦方向では同じ値になる
2
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3
操作方向に対するスリットの配置が不適切であった
4
金属スリット長軸を画素列と平行にした
5
プリサンプリングMTFはエリアシングの影響を含まない, スリット像の線強度分布からフーリエ変換してMTFを求める
6
プリサンプリングMTFはエリアシングエラーを含む, 信号とサンプリングアパーチャとの位置不変性は成り立つ
7
デジタルMTF
8
画像の周波数処理を必要とする
9
フィルムのガンマ(γ)に比例する
10
コルトマン補正
11
0.4
12
1.2
13
特性曲線を用いてX線強度変換する, プリサンプリングMTFはアナログMTFである
14
検出器の不鋭の程度を表す, 検出器の解像度がわかる
15
スリットを撮影して得られた象の1次元分布である, 検出器の不鋭の程度を表す
16
エッジを撮影して得られた像の1次元分布である, 検出器のボケの程度を表す
17
PSFをある方向に積分するとその方向のLSFとなる, LSFのすそ野はノイズが多いが、カットするとトランケーションエラーとなる
18
画素値の線形化を行って測定する, 倍数露光法はスリット像の裾野部分を精度よく求めるのが目的である
19
デジタルMTF, オーバーオールMTF
20
プリサンプリングMTFはアナログMTFである
21
デジタルMTFはナイキスト周波数により形状が変わる
22
エッジ法によるMTFの測定にはフーリエ変換が用いられる
23
標本化周波数が入力信号の最大周波数より大きい時エリアシングは起きない
24
撮影線量
25
検出器の検出セルが小さい時MTFは低下する
26
エリアシングの影響を受ける
27
X線量子数Nの変動によって生じる雑音である
28
ウィンドウを狭めると粒状度が上がった, 特性曲線の傾きが下がり粒状性が良くなった
29
量子ノイズ, 光子ノイズ
30
ウィナースペクトルからRMS粒状度を計算できる, 高域強調フィルタ処理を行うとウィナースペクトルがあがる
31
X線量子ノイズの分散は量子数の平均値に等しい
32
NEQは検出器が利用できるX線量子の数である, DQEは周波数によって変動する
33
MTF(u)*2/WS(u)が一定でGが同じ検出器のDQEは等しい, NEQは量子数が増えると増加する