ET2問題集(専門)1
問題一覧
1
試験周波数を設定する。
2
適正な試験周波数で探傷していた場合, 試験体の寸法が同じで導電率が高くなるのであれば 、より低い試験周波数に設定する。
3
試験体中の探傷部位
4
2kHz
5
探傷器の感度は,ブリッジの平衡と位相の調整が終わった後に、最終的に設定する。
6
感度の設定は,ブリッジの平衡調整と位相の設定を終了した後に行う。
7
指示が記録計のフルスケールの50%程度となるように感度を設定する。
8
試験開始の前に対比試験片を用いて探傷試験装置の調整を行う。
9
探傷器の感度を 高くする。
10
対比試験片
11
渦流探傷試験の前処理として試験体に付着した金属粉などの除去作業をおこなう。
12
表示装置の輝点位置調整
13
対比試験片は試験条件の設定および装置の正常な運転を確認するために用いられる。
14
試験体表面の円周方向のきず位置による感度のバラツキを無くすため
15
プローブ内における試験体表面の周上の位置による感度のバラツキが生じないようにするため
16
外来雑音
17
立相調整の不良は、調整つまみを再調整した後の再試験によって雑音が小さくなることか ら判別できる。
18
同じ条件で再試験する。
19
外来雑音は、一般に試験を繰り返す毎に異なるので、 再試験によりきず信号と識別できる。
20
数多くの試験体においてほぼ同じ位置に発生する雑音は,送り装置の調整不良が原因である。
21
打痕
22
ヘゲきず
23
fc(tube)=2/πσμt(b-2t)
24
加工するきずの間隔は、 それぞれのきずが十分に分離して検出できる長さ以上とする。
25
対比試験片を90°ずつ回転して試験を繰り返し、同じ指示が得られるように心出し後置を調整する。
26
試験体の磁束密度が飽和磁束密度の約80%以上を得られる磁化電流が良い。
27
送り装置の調整不良による雑音は同じ位置に発生することが多いので、 送り装置を調整し て再試験を行う。
28
後工程に影響があるとき,または他の計測器に影響を与える恐れがあるときは、脱磁する必要がある。
29
一般に交流脱磁では商用電源を用いるが、大きな試験体ではこのような低周波数でも深部までは脱磁ができない。
30
断面積変化のない試験体形状に適している。
31
試験体と同一ロットから選定することが望ましい。
32
15〜50
33
試験体の送り速度が高くなるに従い,試験周波数を高くすることを考慮する必要がある。
暗記・公式
暗記・公式
岡本紘太 · 22問 · 1年前暗記・公式
暗記・公式
22問 • 1年前演習問題2章
演習問題2章
岡本紘太 · 84問 · 1年前演習問題2章
演習問題2章
84問 • 1年前建築鉄骨超音波検査技術者
建築鉄骨超音波検査技術者
岡本紘太 · 17問 · 1年前建築鉄骨超音波検査技術者
建築鉄骨超音波検査技術者
17問 • 1年前演習問題1章
演習問題1章
岡本紘太 · 30問 · 1年前演習問題1章
演習問題1章
30問 • 1年前ET2問題集(一般)1
ET2問題集(一般)1
岡本紘太 · 100問 · 1年前ET2問題集(一般)1
ET2問題集(一般)1
100問 • 1年前実技
実技
岡本紘太 · 27問 · 1年前実技
実技
27問 • 1年前共通
共通
岡本紘太 · 6問 · 1年前共通
共通
6問 • 1年前ET2問題集(一般)2
ET2問題集(一般)2
岡本紘太 · 23問 · 1年前ET2問題集(一般)2
ET2問題集(一般)2
23問 • 1年前問題一覧
1
試験周波数を設定する。
2
適正な試験周波数で探傷していた場合, 試験体の寸法が同じで導電率が高くなるのであれば 、より低い試験周波数に設定する。
3
試験体中の探傷部位
4
2kHz
5
探傷器の感度は,ブリッジの平衡と位相の調整が終わった後に、最終的に設定する。
6
感度の設定は,ブリッジの平衡調整と位相の設定を終了した後に行う。
7
指示が記録計のフルスケールの50%程度となるように感度を設定する。
8
試験開始の前に対比試験片を用いて探傷試験装置の調整を行う。
9
探傷器の感度を 高くする。
10
対比試験片
11
渦流探傷試験の前処理として試験体に付着した金属粉などの除去作業をおこなう。
12
表示装置の輝点位置調整
13
対比試験片は試験条件の設定および装置の正常な運転を確認するために用いられる。
14
試験体表面の円周方向のきず位置による感度のバラツキを無くすため
15
プローブ内における試験体表面の周上の位置による感度のバラツキが生じないようにするため
16
外来雑音
17
立相調整の不良は、調整つまみを再調整した後の再試験によって雑音が小さくなることか ら判別できる。
18
同じ条件で再試験する。
19
外来雑音は、一般に試験を繰り返す毎に異なるので、 再試験によりきず信号と識別できる。
20
数多くの試験体においてほぼ同じ位置に発生する雑音は,送り装置の調整不良が原因である。
21
打痕
22
ヘゲきず
23
fc(tube)=2/πσμt(b-2t)
24
加工するきずの間隔は、 それぞれのきずが十分に分離して検出できる長さ以上とする。
25
対比試験片を90°ずつ回転して試験を繰り返し、同じ指示が得られるように心出し後置を調整する。
26
試験体の磁束密度が飽和磁束密度の約80%以上を得られる磁化電流が良い。
27
送り装置の調整不良による雑音は同じ位置に発生することが多いので、 送り装置を調整し て再試験を行う。
28
後工程に影響があるとき,または他の計測器に影響を与える恐れがあるときは、脱磁する必要がある。
29
一般に交流脱磁では商用電源を用いるが、大きな試験体ではこのような低周波数でも深部までは脱磁ができない。
30
断面積変化のない試験体形状に適している。
31
試験体と同一ロットから選定することが望ましい。
32
15〜50
33
試験体の送り速度が高くなるに従い,試験周波数を高くすることを考慮する必要がある。