問題一覧
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〇
25
消費電力が多い。
26
整理、整頓、清掃、清潔、しつけ
27
散布図
28
PCT(プレッシャークッカーテスト)
29
はんだ接続法
30
Cu
31
[ 製品側 ] 陰極 [ めっき槽側 ] 陽極
32
基板と封止樹脂との密着性を向上させるため。
33
A:高温 B:金属間化合物
34
Niの量が42wt%である。
35
フィラーの含有率を減少させると、モールド樹脂の強度が上がる。
36
角すいコレット
37
Au-Si共晶>Au-Sn共晶>エポキシ樹脂
38
ポリイミド
39
QFP
40
Gは、端子配列のGridのGのことである。
41
耐熱性に優れている。
42
SOP
43
超音波ワイヤボンディング法と比べて、ボンディングスピードが速い。
44
[装置] ワイヤボンダ [部品] コレット
45
ウェッジツールを交換した。
46
グロスリークテスト
47
製品が直接触れる作業机の部分は金属製にし、接地する。
48
0.1μm以上
49
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50
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〇
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72
〇
73
×
74
バスタブ曲線から、生産量と生産コストを読み取ることができる。
75
94枚
76
チェックシート、グラフ、パレート図、特性要因図、散布図、ヒストグラム、管理図
77
PCT(プレッシャークッカー試験)
78
①スクラブ ②酸化
79
①99.99%以上 ②20~50μm ③60~120kHz
80
キャピラリ
81
鉛フリーボールマウント工程(含むリフロー)
82
フック曲げ
83
Au線
84
UVテープが使用されている理由は、弱粘着テープよりテープコストが安価なためである。
85
電気抵抗率を考慮し、純水にCO₂を溶解したものを使用する。
86
Au線の引張強度は、線径が変わっても変化しない。
87
熱膨張係数がSiに近い。
88
Fは平坦(Flat)のFのことである。
89
SOP、BGA、QFP
90
セラミックをガラス封止したパッケージ
91
A:TQFP B:BGA
92
[装置] ディスペンサ [使用工程] リード成形
93
ウィンドクランパ、ヒートブロック(ヒートコマ)、キャピラリ
94
超音波発生器
95
チップ裏面の表面粗さ
96
エアベント詰まり
97
HEPAフィルタ
98
〇
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100
〇
半導体製造/集積回路組立2級筆記(A郡真偽法)
半導体製造/集積回路組立2級筆記(A郡真偽法)
ユーザ名非公開 · 37問 · 3ヶ月前半導体製造/集積回路組立2級筆記(A郡真偽法)
半導体製造/集積回路組立2級筆記(A郡真偽法)
37問 • 3ヶ月前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
ユーザ名非公開 · 386問 · 1日前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
386問 • 1日前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
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ユーザ名非公開 · 386問 · 1日前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
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386問 • 1日前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
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ユーザ名非公開 · 386問 · 1日前半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
半導体 組立 2級学科(H28-R5) 絵問題無
386問 • 1日前問題一覧
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散布図
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PCT(プレッシャークッカーテスト)
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はんだ接続法
30
Cu
31
[ 製品側 ] 陰極 [ めっき槽側 ] 陽極
32
基板と封止樹脂との密着性を向上させるため。
33
A:高温 B:金属間化合物
34
Niの量が42wt%である。
35
フィラーの含有率を減少させると、モールド樹脂の強度が上がる。
36
角すいコレット
37
Au-Si共晶>Au-Sn共晶>エポキシ樹脂
38
ポリイミド
39
QFP
40
Gは、端子配列のGridのGのことである。
41
耐熱性に優れている。
42
SOP
43
超音波ワイヤボンディング法と比べて、ボンディングスピードが速い。
44
[装置] ワイヤボンダ [部品] コレット
45
ウェッジツールを交換した。
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グロスリークテスト
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製品が直接触れる作業机の部分は金属製にし、接地する。
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0.1μm以上
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バスタブ曲線から、生産量と生産コストを読み取ることができる。
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チェックシート、グラフ、パレート図、特性要因図、散布図、ヒストグラム、管理図
77
PCT(プレッシャークッカー試験)
78
①スクラブ ②酸化
79
①99.99%以上 ②20~50μm ③60~120kHz
80
キャピラリ
81
鉛フリーボールマウント工程(含むリフロー)
82
フック曲げ
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Au線
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UVテープが使用されている理由は、弱粘着テープよりテープコストが安価なためである。
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電気抵抗率を考慮し、純水にCO₂を溶解したものを使用する。
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Au線の引張強度は、線径が変わっても変化しない。
87
熱膨張係数がSiに近い。
88
Fは平坦(Flat)のFのことである。
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SOP、BGA、QFP
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セラミックをガラス封止したパッケージ
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A:TQFP B:BGA
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[装置] ディスペンサ [使用工程] リード成形
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ウィンドクランパ、ヒートブロック(ヒートコマ)、キャピラリ
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超音波発生器
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チップ裏面の表面粗さ
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エアベント詰まり
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HEPAフィルタ
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