問題一覧
1
片面両側を探傷するように指示があった場合、探傷はAとBの面より探傷する。
2
突合せ継手を片面両側から探傷する場合は、直射法及び一回反射法が指定される。
3
NDT指示書は、レベル2技術者が、NDT手順から書き換えることができる。
4
探傷技術者氏名，探傷条件，製品材質及び寸法
5
試験記録は、誤字や脱字がないように注意して記述する。
6
超音波の波長が短い探触子を使用する。
7
V形開先溶接部のルート溶込み不良は、通常エコー高さが大きく検出しやすい。
8
割れの面に垂直に超音波が人射する場合，斜めに人射する場合に比べて、エコー高さが高い。
9
割れの面に垂直に超音波を入射させるとエコー高さが高い。
10
面状きずでは、超音波ビームがきずの面に対して垂直に入射したときに最大エコー高さが得られる。
11
V形開先浴接部のルート溶込み不良は、ブローホールよりエコー高さが高いことが多い。
12
ブローホールを検出するには、探傷感度をかなり高めた方がよい。
13
探傷面が粗い場合には、低い周波数が適している。
14
できるだけ小さなきずまで検出するためには、波長の短い超音波を使う。
15
小さいきずを検出する場合には、一般に高い周波数が適している。
16
NDT指示書の確認を行い、探傷結果を照合し、きずの分類を行う。
17
表示器上のエコーの高さを変化させることができる。
18
探傷図形におけるエコーのビーム路程は、反射源の位置情報となる。
19
表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。
20
探傷器には、探触子から超音波を送信し、探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。
21
STB-A1の25 mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し、B1とB2のビーム路程差が表示器上 25.0mmになるように音速値を調整する。その後B1のビーム路程が25.0mmとなるように零点を調整する。
22
超音波探傷器は、探傷を開始する前に、測定範囲と感度を調整しておかなければならい。
23
測定範囲の調整は、STB-A1で行うが、垂直探傷では、STB-NIで行うこともある。
24
ゲイン調整機能で変えることができる。
25
表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。
26
測定範囲調整機能は、表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。
27
近距離分解能が低下すると、探傷面に近いきずを見逃すことがある。
28
（a）
29
5C10×10A65の探触子を用いて調整する場合は、Φ4↓4mm（Φ4✕4mm）の標準穴からのエコー高さをM 線に合わせる。
30
（a）
31
（c）
32
測定範囲の調整は、STB-A32のR100mmとR50mmの曲面部分を利用して行う。
33
探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは、ケレン棒などにより除去する。
34
水浸探傷法には、全没水浸法と局部水浸法がある。
35
探触子が試験体表面と非接触であるため、探触子表面の損傷が少ない。
36
水浸法は、探触子と試験体の間に水を満たして探傷するので、試験体の表面粗さの影響をあまり受けない。
37
水浸探傷では、特殊な場合を除き、超音波ビームが試験体の表面に垂直に入射されるように配置する必要がある。
38
距離振幅特性曲線の作成は、標準試験片のSTB-A2や対比試験片のRB-41A を使用してできる。
39
探触子のSTB屈折角が影響する。
40
感度補正は、表面粗さによって異なるので、試験体について測定した値を使用して行う。
41
感度補正は、探傷面の表面粗さが粗い試験体を探傷する場合に行う。
42
前後走査は、超音波の伝搬方向に対して平行に探触子を移動させることである。
43
左右走査は、超音波の伝搬方向に対して直角方向に探触子を移動させることである。
44
斜角探触子の基本走査には、前後走査、左右走査及び首振り走査がある。
45
首振り走査
46
振子走査
47
左右走査
48
前後走査
49
M検出レベルで探傷するよりも、6dB低いエコーまで検出できる。
50
6dB低下法は，最大エコー高さを示す位置からそのエコー高さが半分の値になる探触子位置で、きずの広がりを推定する方法である。
51
DGS線図の曲線は、等価きず直径を表している。
52
DGS線図は、きずをSTB-Gのような円形平面きずに換算して評価するときに用いる。
53
DGS 線図は、垂直探傷におけるきずの評価に用いる。
54
M検出レベルは、L線できずの指示長さを測定する。
55
斜角探傷では、きずの指示長さは左右走査により測定する。
56
51mm
57
53mm
58
52mm
59
50mm
60
厚さ測定には、二振動子垂直探触子を使用し、表面エコー（S）と底面エコー（B1）の間の時間を測定して音速から厚さに換算する方法がある。
61
厚さ測定には、音速を調整する試験片が必要であり、音速と零点を調整して測定する。
62
内部きずや底面エコーの確認ができるので、厚さの異常値を判別できる。
63
またぎ走査は、二探触子法である。
64
二探触子法は、送信側探触子と受側探触子の組合せで使用される。
65
透過法は、反射法と比べてビーム路程は1/2になる。
66
透過法は、超音波の伝搬が片道であるので板の探傷では、表裏面に探触子の設置が必要である。
67
二探触子法で行う。
68
探傷は周波数、屈折角，振動子寸法が同じものを送信と受信用として2個を使用して行う。
69
音響異方性があると、探傷方向によって探傷感度は変わる。
70
屈折角 70度で板厚15mmにおける1スキップのビーム路程は、約90mmである。
71
54mm
72
F/BGを用いる場合、試験体の材質、及び形状法が同じならば同じゲイン値で探傷し、評価できる。
73
大きなきずがあると、底面エコー高さが異常に小さくなることがある。
74
きずエコー高さの領域
75
きずの指示長さ
76
エコー高さ区分線のM線を超え、H線以下は領域IIIである。
77
報告書は、JIS規格に決められた項目から必要なものを選んで書類を作成する。
78
報告書の様式は、工事が異なっても共通する部分と各工事に必要な部分を分けて様式を決める。
問題一覧
1
片面両側を探傷するように指示があった場合、探傷はAとBの面より探傷する。
2
突合せ継手を片面両側から探傷する場合は、直射法及び一回反射法が指定される。
3
NDT指示書は、レベル2技術者が、NDT手順から書き換えることができる。
4
探傷技術者氏名，探傷条件，製品材質及び寸法
5
試験記録は、誤字や脱字がないように注意して記述する。
6
超音波の波長が短い探触子を使用する。
7
V形開先溶接部のルート溶込み不良は、通常エコー高さが大きく検出しやすい。
8
割れの面に垂直に超音波が人射する場合，斜めに人射する場合に比べて、エコー高さが高い。
9
割れの面に垂直に超音波を入射させるとエコー高さが高い。
10
面状きずでは、超音波ビームがきずの面に対して垂直に入射したときに最大エコー高さが得られる。
11
V形開先浴接部のルート溶込み不良は、ブローホールよりエコー高さが高いことが多い。
12
ブローホールを検出するには、探傷感度をかなり高めた方がよい。
13
探傷面が粗い場合には、低い周波数が適している。
14
できるだけ小さなきずまで検出するためには、波長の短い超音波を使う。
15
小さいきずを検出する場合には、一般に高い周波数が適している。
16
NDT指示書の確認を行い、探傷結果を照合し、きずの分類を行う。
17
表示器上のエコーの高さを変化させることができる。
18
探傷図形におけるエコーのビーム路程は、反射源の位置情報となる。
19
表示器上の探傷可能範囲を変化させることができる。
20
探傷器には、探触子から超音波を送信し、探触子が受信した超音波信号を表示器上に表示する機能がある。
21
STB-A1の25 mm厚さ方向に探触子を接触させて保持し、B1とB2のビーム路程差が表示器上 25.0mmになるように音速値を調整する。その後B1のビーム路程が25.0mmとなるように零点を調整する。
22
超音波探傷器は、探傷を開始する前に、測定範囲と感度を調整しておかなければならい。
23
測定範囲の調整は、STB-A1で行うが、垂直探傷では、STB-NIで行うこともある。
24
ゲイン調整機能で変えることができる。
25
表示器上のエコーの間隔を変化させることができる。
26
測定範囲調整機能は、表示器上の時間軸を探傷試験体の探傷距離に調整する機能である。
27
近距離分解能が低下すると、探傷面に近いきずを見逃すことがある。
28
（a）
29
5C10×10A65の探触子を用いて調整する場合は、Φ4↓4mm（Φ4✕4mm）の標準穴からのエコー高さをM 線に合わせる。
30
（a）
31
（c）
32
測定範囲の調整は、STB-A32のR100mmとR50mmの曲面部分を利用して行う。
33
探傷前の試験体の準備として溶接部近傍に付着しているスパッタなどは、ケレン棒などにより除去する。
34
水浸探傷法には、全没水浸法と局部水浸法がある。
35
探触子が試験体表面と非接触であるため、探触子表面の損傷が少ない。
36
水浸法は、探触子と試験体の間に水を満たして探傷するので、試験体の表面粗さの影響をあまり受けない。
37
水浸探傷では、特殊な場合を除き、超音波ビームが試験体の表面に垂直に入射されるように配置する必要がある。
38
距離振幅特性曲線の作成は、標準試験片のSTB-A2や対比試験片のRB-41A を使用してできる。
39
探触子のSTB屈折角が影響する。
40
感度補正は、表面粗さによって異なるので、試験体について測定した値を使用して行う。
41
感度補正は、探傷面の表面粗さが粗い試験体を探傷する場合に行う。
42
前後走査は、超音波の伝搬方向に対して平行に探触子を移動させることである。
43
左右走査は、超音波の伝搬方向に対して直角方向に探触子を移動させることである。
44
斜角探触子の基本走査には、前後走査、左右走査及び首振り走査がある。
45
首振り走査
46
振子走査
47
左右走査
48
前後走査
49
M検出レベルで探傷するよりも、6dB低いエコーまで検出できる。
50
6dB低下法は，最大エコー高さを示す位置からそのエコー高さが半分の値になる探触子位置で、きずの広がりを推定する方法である。
51
DGS線図の曲線は、等価きず直径を表している。
52
DGS線図は、きずをSTB-Gのような円形平面きずに換算して評価するときに用いる。
53
DGS 線図は、垂直探傷におけるきずの評価に用いる。
54
M検出レベルは、L線できずの指示長さを測定する。
55
斜角探傷では、きずの指示長さは左右走査により測定する。
56
51mm
57
53mm
58
52mm
59
50mm
60
厚さ測定には、二振動子垂直探触子を使用し、表面エコー（S）と底面エコー（B1）の間の時間を測定して音速から厚さに換算する方法がある。
61
厚さ測定には、音速を調整する試験片が必要であり、音速と零点を調整して測定する。
62
内部きずや底面エコーの確認ができるので、厚さの異常値を判別できる。
63
またぎ走査は、二探触子法である。
64
二探触子法は、送信側探触子と受側探触子の組合せで使用される。
65
透過法は、反射法と比べてビーム路程は1/2になる。
66
透過法は、超音波の伝搬が片道であるので板の探傷では、表裏面に探触子の設置が必要である。
67
二探触子法で行う。
68
探傷は周波数、屈折角，振動子寸法が同じものを送信と受信用として2個を使用して行う。
69
音響異方性があると、探傷方向によって探傷感度は変わる。
70
屈折角 70度で板厚15mmにおける1スキップのビーム路程は、約90mmである。
71
54mm
72
F/BGを用いる場合、試験体の材質、及び形状法が同じならば同じゲイン値で探傷し、評価できる。
73
大きなきずがあると、底面エコー高さが異常に小さくなることがある。
74
きずエコー高さの領域
75
きずの指示長さ
76
エコー高さ区分線のM線を超え、H線以下は領域IIIである。
77
報告書は、JIS規格に決められた項目から必要なものを選んで書類を作成する。
78
報告書の様式は、工事が異なっても共通する部分と各工事に必要な部分を分けて様式を決める。