土曜日
問題一覧
1
アイソセンターを中心とする単一の横断面を使用する。
2
画像均一性の測定は、完全に均一な場合、NEMA では全均一性は0になる。, Parallel MRI での SNR 測定では、空中で雑音を測定するのは望ましくない。
3
基本的に SNR と CNR は相関する。, CNR はファントム温度に依存する。, 差分法の SNR は信号強度×√2/ 標準偏差である。
4
測定法は差分法である。, Fast SE 法は撮像シーケンスとして使用できない。
5
部屋とファントムの温度は 22±4°Cにする。, TR は信号発生物の T1 値の 3 倍以上にする。
6
表面コイルを用いる場合、SNRと均一性の評価を同時に行う。, 空間分解能の評価は等間隔に並んだピンパターンから視覚評価を行う。
7
バックグラウンド領域でのノイズはレイリー分布を示す。, ピクセルシフトによる差分法では 1 枚の画像からノイズを評価できる。
8
差分法は信号ムラやトランケーションアーチファクトの影響を排除できる。, ピクセルシフトによる差分法は 3 方向(読み取り方向、位相方向、斜め方向)に 1 ピクセルシフトさせた画像を作成する。
9
NEMA ではファントム温度は 22±4°Cである, NEMA ではスパンと中央値から不均一度と均一度を算出する。, NEMA のグレイスケールマップは雑音の影響を少なくするため、Gaussian フィルタを加える。
10
PIU(peak deviation non-uniformity)とは、100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法である。, NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価する方法で、高ノイズ画像に影響されにくい。
11
NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価する方法である。, PIU(peak deviation non-uniformity)とは、100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法である。
12
NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価 する方法であり、ノイズの影響を受けにくい。, 画像のマトリクスサイズは 128×128 以上が推奨されている。
13
スパン Δは(Smax-Smin)/2 である。, 撮像画像に 9 点ローパスフィルター処理を行う。
14
スライス厚は 10 mm 以下に設定する, 測定 ROI はファントム領域の 75%を含むように設定する
15
不均一度は 100×(Smax-Smin)/(Smax+Smin)で計算される。
16
TR はファントムの T1 値の 5 倍以上に設定する。, NAAD(normalized absolute average deviation)は ROI 内の各ピクセル値の絶対偏差から均一性を評価する方法である。
17
画像のノイズの影響を少なくするために9点ローパスフィルタ処理をおこなう。
18
ピクセルサイズは最大保証範囲の 1%以下とする。, 測定ファントムは、リング、穴、ピンなど保障範囲の境界を定義できる構造物とする。
19
スライス厚は 10mm 以下とする。, 測定ファントムは、リング、穴、ピンなど、保証範囲の境界を定義できる構造物とする。
20
距離の測定間隔は 45°以下で 4 本以上とする。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し、最大誤差を表記する。
21
距離の測定間隔は45°以下で4 本以上とする。, ピクセルサイズは最大保証範囲の1%以下とする。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し,最大誤差を表記する。
22
距離の測定間隔を 30°で 6 本として測定してもよい。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し、最大誤差を表記する。
23
スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RF パルスの不均一、 静磁場の不均一などがあげられる。
24
スライス厚の測定は、2対のウエッジか傾斜板を使用するのが、一般的である。, スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RFパルスの不均一、静磁場の不均一などがあげられる。
25
スライス厚の測定は、2対のウエッジか傾斜板を使用するのが、一般的である。, スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RF パルスの不均一、静磁場の不均一などがあげられる。
26
受信バンド幅が狭いほど SNR は大きくなる。, 画像の幾何学的なひずみと静磁場の不均一性は大きく関係する。
27
TR は信号発生物質の T1 値の 3 倍以上にする。, ウエッジ法のスライス厚はFWHM × tan 𝛼である。
28
ア: α-θ イ:W2×tan(α-θ) ウ:W2×tan(α+θ) エ:W1=W2 オ:5.8mm
29
T=W1×tan(α+θ)である。, ウェッジの傾斜角αは 5~15°とする。
30
エッジを利用した濃度曲線を微分して PSF を作成する。
31
(a)はLの10倍以上とする。, (b)はスライス厚の2倍以上とする。, ROI 内の信号値と標準偏差から平均 MTF を測定することができる。
32
(b)はスライス厚の2倍以上とする, ROI内の信号値と標準偏差から平均MTFを測定することができる。
33
SNRが低いとノイズでアーチファクトが認識できなくなる。, ゴースト信号比、ゴースト雑音比および信号雑音比の値を評価する
34
(ア)30 (イ)0.0009
17回
17回
阿部高虎 · 50問 · 2年前17回
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緩和
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核磁気共鳴を示す核
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BW
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阿部高虎 · 23問 · 1年前ケミカルシフトアーチファクト
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阿部高虎 · 5問 · 1年前ゴーストアーチファクト
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磁化率、バンディングアーチファクト
阿部高虎 · 14問 · 1年前磁化率、バンディングアーチファクト
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その他アーチファクト
阿部高虎 · 15問 · 1年前その他アーチファクト
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15問 • 1年前18回
18回
阿部高虎 · 45問 · 1年前18回
18回
45問 • 1年前19回
19回
阿部高虎 · 51問 · 1年前19回
19回
51問 • 1年前月曜日
月曜日
阿部高虎 · 105問 · 1年前月曜日
月曜日
105問 • 1年前火曜日
火曜日
阿部高虎 · 107問 · 1年前火曜日
火曜日
107問 • 1年前水曜日
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阿部高虎 · 112問 · 1年前水曜日
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112問 • 1年前木曜日
木曜日
阿部高虎 · 161問 · 1年前木曜日
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161問 • 1年前金曜日
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阿部高虎 · 103問 · 1年前金曜日
金曜日
103問 • 1年前総合
総合
阿部高虎 · 585問 · 1年前総合
総合
585問 • 1年前問題一覧
1
アイソセンターを中心とする単一の横断面を使用する。
2
画像均一性の測定は、完全に均一な場合、NEMA では全均一性は0になる。, Parallel MRI での SNR 測定では、空中で雑音を測定するのは望ましくない。
3
基本的に SNR と CNR は相関する。, CNR はファントム温度に依存する。, 差分法の SNR は信号強度×√2/ 標準偏差である。
4
測定法は差分法である。, Fast SE 法は撮像シーケンスとして使用できない。
5
部屋とファントムの温度は 22±4°Cにする。, TR は信号発生物の T1 値の 3 倍以上にする。
6
表面コイルを用いる場合、SNRと均一性の評価を同時に行う。, 空間分解能の評価は等間隔に並んだピンパターンから視覚評価を行う。
7
バックグラウンド領域でのノイズはレイリー分布を示す。, ピクセルシフトによる差分法では 1 枚の画像からノイズを評価できる。
8
差分法は信号ムラやトランケーションアーチファクトの影響を排除できる。, ピクセルシフトによる差分法は 3 方向(読み取り方向、位相方向、斜め方向)に 1 ピクセルシフトさせた画像を作成する。
9
NEMA ではファントム温度は 22±4°Cである, NEMA ではスパンと中央値から不均一度と均一度を算出する。, NEMA のグレイスケールマップは雑音の影響を少なくするため、Gaussian フィルタを加える。
10
PIU(peak deviation non-uniformity)とは、100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法である。, NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価する方法で、高ノイズ画像に影響されにくい。
11
NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価する方法である。, PIU(peak deviation non-uniformity)とは、100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法である。
12
NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価 する方法であり、ノイズの影響を受けにくい。, 画像のマトリクスサイズは 128×128 以上が推奨されている。
13
スパン Δは(Smax-Smin)/2 である。, 撮像画像に 9 点ローパスフィルター処理を行う。
14
スライス厚は 10 mm 以下に設定する, 測定 ROI はファントム領域の 75%を含むように設定する
15
不均一度は 100×(Smax-Smin)/(Smax+Smin)で計算される。
16
TR はファントムの T1 値の 5 倍以上に設定する。, NAAD(normalized absolute average deviation)は ROI 内の各ピクセル値の絶対偏差から均一性を評価する方法である。
17
画像のノイズの影響を少なくするために9点ローパスフィルタ処理をおこなう。
18
ピクセルサイズは最大保証範囲の 1%以下とする。, 測定ファントムは、リング、穴、ピンなど保障範囲の境界を定義できる構造物とする。
19
スライス厚は 10mm 以下とする。, 測定ファントムは、リング、穴、ピンなど、保証範囲の境界を定義できる構造物とする。
20
距離の測定間隔は 45°以下で 4 本以上とする。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し、最大誤差を表記する。
21
距離の測定間隔は45°以下で4 本以上とする。, ピクセルサイズは最大保証範囲の1%以下とする。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し,最大誤差を表記する。
22
距離の測定間隔を 30°で 6 本として測定してもよい。, 測定値と実寸の誤差割合を算出し、最大誤差を表記する。
23
スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RF パルスの不均一、 静磁場の不均一などがあげられる。
24
スライス厚の測定は、2対のウエッジか傾斜板を使用するのが、一般的である。, スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RFパルスの不均一、静磁場の不均一などがあげられる。
25
スライス厚の測定は、2対のウエッジか傾斜板を使用するのが、一般的である。, スライス厚に影響を与える因子として、傾斜磁場の不均一、RF パルスの不均一、静磁場の不均一などがあげられる。
26
受信バンド幅が狭いほど SNR は大きくなる。, 画像の幾何学的なひずみと静磁場の不均一性は大きく関係する。
27
TR は信号発生物質の T1 値の 3 倍以上にする。, ウエッジ法のスライス厚はFWHM × tan 𝛼である。
28
ア: α-θ イ:W2×tan(α-θ) ウ:W2×tan(α+θ) エ:W1=W2 オ:5.8mm
29
T=W1×tan(α+θ)である。, ウェッジの傾斜角αは 5~15°とする。
30
エッジを利用した濃度曲線を微分して PSF を作成する。
31
(a)はLの10倍以上とする。, (b)はスライス厚の2倍以上とする。, ROI 内の信号値と標準偏差から平均 MTF を測定することができる。
32
(b)はスライス厚の2倍以上とする, ROI内の信号値と標準偏差から平均MTFを測定することができる。
33
SNRが低いとノイズでアーチファクトが認識できなくなる。, ゴースト信号比、ゴースト雑音比および信号雑音比の値を評価する
34
(ア)30 (イ)0.0009