UT問題集3
問題一覧
1
きずを最も検出し易い超音波の伝播方法は、一般にきずの面積が最大となる方向である。
2
振動子直径の小さい探触子を用いて遠距離音場とする。
3
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面と底面が平行でないと適用できない。
4
dcab
5
きずの指示長さは、1㎜の単位で測定する。
6
探傷屈折角とは、試験体又は試験体から切り出した対比試験片を用いて、探傷方向において測定した屈折角のことをいう。
7
30.2
8
透過法によって、きずの種類を判別することができる。
9
透過法は、送受二個の探触子を用いて探傷を行う。
10
一般の射角探傷法では、きずの傾きや形状の影響を強く受けるが、TOFD法による探傷ではそれらの影響を受けにくい。
11
きず高さを端部エコー法で測定する場合、集束探触子を適用すると測定精度が向上する。
12
端部エコー法により、きず高さを測定してきずを評価する場合、きずエコー高さの領域は無視してもよい。
13
溶接部のきず高さの測定には、集束斜角探触子を用いた端部エコー法が適用される。
14
16
15
c
16
端部エコー法は、内部きず、表面開口きずの何れの場合にも適用できる。
17
送信用、受信用の2個の斜角探触子を同一探傷面上の前後に配置して探傷する。
18
板厚の厚い内部の溶け込み不良の検出には、タンデム探傷法が有効である。
19
タンデム探傷法は、X開先溶接部の溶け込み不良や狭開先溶接部の開先面の融合不良の検出に適している。
20
タンデム探傷法とは、斜角探傷において探傷面に垂直なきずを検出するために、探触子を2個前後させて配置し、一方を送信用に他方を受信用にして行う探傷法である。
21
X開先溶接部に発生する溶け込み不良の検出には、タンデム探傷法が適している。
22
30
23
10mm
24
探触子に音響レンズを用いると、超音波ビームの集束が可能となり、高い方位分解能が得られる。
25
厚鋼板の探傷に二振動子垂直探触子を用いた場合、試験体と探触子とのギャップは0.3mm~0.8mm程度である。
26
[1]0.3~0.8, [2]段差, [3]水などの接触媒質, [4]超音波, [5]直接接触法
27
水浸法では、集束探触子を用いた垂直探傷がよく行われる。
28
溶接部を挟んで、送信及び受信用縦波斜格探触子を試験体表面に配置して、探傷する。
29
きずの指示高さを測定することができる方法である。
30
TOFD法では、縦波斜角探触子を用いて探傷を行う。
31
TOFD法は、アルミニウム合金溶接部の探傷にも適用できる。
32
探傷面が粗いときには、アクリル樹脂などの遅延材付きの探触子が適している。
33
B5C20N
34
[1]10, [2]93.8, [3]13
35
babb
36
bcbbc
37
aabbb
38
探傷面に近いきずを検出するときには、高い周波数が適している。
39
薄板の探傷には、高い周波数が適している。
40
caaaa
41
NDT指示書
42
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
43
NDT指示書は、レベル1技術者が探傷条件を誤ることがないように、具体的な探傷条件を記述する。
44
NDT Instruction
45
探傷面に曲率がある場合、振動子寸法を小さくした方が影響は少なくなる。
46
表面と裏面の粗さが同じであれば、伝達損失の方が反射損失よりも大きい。
47
bb
48
ラミネーションの検出には、垂直探傷を行い、きずエコーの有無を調べる。
49
鋼板Bは鋼板Aより探触子の接触が悪い。
50
A点のF/BFの値の方が大きいから、A点の傷の方が大きい。
51
cca
52
局部水浸法で探傷する場合、直接接触法に比べて、探傷面の粗さの影響を受けにくい。
53
dcaa
54
きず個数の評価は、軽きずや重きずは中きず区分に換算して中きず区分の総数で評価を行う。
55
b
56
DGS線図を使用し、きずの大きさを推定する。
57
ac
58
探傷器のパルス繰り返し周波数を変化させて確認する。
59
bd
60
林状エコーが多く、底面エコーが現れない場合、試験周波数をもっと低くする。
61
K走査探傷法
62
探傷には、垂直探触子、斜角探触子及び二振動子垂直探触子を併用する。
63
bc
64
大型品が多く、メタルフローが複雑になっておりきずの方向性が複雑である。
65
ddbccb
66
bcd
67
cb
68
同一とみなされる反射源の二つのきずに対して、きずときずの間隔が、長い方のきずの長さと同じか又はそれより短い場合は、同一きず群とみなし、それらの間隙を含めて連続したきずとする。
69
aac
70
エコー高さ区分線の作成及び探傷感度の調整にRB-42を用いて行う。
71
b
72
横割れの検出には、可能であれば余盛を切削して溶接線上走査で行うのが良い。
73
dba
74
面状の割れに対する超音波の入射角度が変わると、エコー高さは著しく変化する。
75
RB-42を用いて探傷感度を調整する。
76
溶接線上走査
77
JIS Z 3060で、試験周波数を2MHz~5MHzと規定しているのは、試験体板厚に応じたビーム路程ときず検出能を考慮しているためである。
78
RB-43を用いて探傷感度を調整する。
79
ベベル角30度のV開先突合せ溶接部に発生する開先面の融合不良の検出には、屈折角60度の探触子を用いて一回反射法で探傷するのが良い。
80
斜角探傷では超音波の伝搬する部分に音響異方性がある場合、音速のみならず減衰係数も異なる。
81
2Z20×10A45を使用し、きずの指示長さを6dB低下法により測定した。
82
鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷や斜角探傷も行う必要がある。
ランダム
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15問 • 1年前問題一覧
1
きずを最も検出し易い超音波の伝播方法は、一般にきずの面積が最大となる方向である。
2
振動子直径の小さい探触子を用いて遠距離音場とする。
3
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面と底面が平行でないと適用できない。
4
dcab
5
きずの指示長さは、1㎜の単位で測定する。
6
探傷屈折角とは、試験体又は試験体から切り出した対比試験片を用いて、探傷方向において測定した屈折角のことをいう。
7
30.2
8
透過法によって、きずの種類を判別することができる。
9
透過法は、送受二個の探触子を用いて探傷を行う。
10
一般の射角探傷法では、きずの傾きや形状の影響を強く受けるが、TOFD法による探傷ではそれらの影響を受けにくい。
11
きず高さを端部エコー法で測定する場合、集束探触子を適用すると測定精度が向上する。
12
端部エコー法により、きず高さを測定してきずを評価する場合、きずエコー高さの領域は無視してもよい。
13
溶接部のきず高さの測定には、集束斜角探触子を用いた端部エコー法が適用される。
14
16
15
c
16
端部エコー法は、内部きず、表面開口きずの何れの場合にも適用できる。
17
送信用、受信用の2個の斜角探触子を同一探傷面上の前後に配置して探傷する。
18
板厚の厚い内部の溶け込み不良の検出には、タンデム探傷法が有効である。
19
タンデム探傷法は、X開先溶接部の溶け込み不良や狭開先溶接部の開先面の融合不良の検出に適している。
20
タンデム探傷法とは、斜角探傷において探傷面に垂直なきずを検出するために、探触子を2個前後させて配置し、一方を送信用に他方を受信用にして行う探傷法である。
21
X開先溶接部に発生する溶け込み不良の検出には、タンデム探傷法が適している。
22
30
23
10mm
24
探触子に音響レンズを用いると、超音波ビームの集束が可能となり、高い方位分解能が得られる。
25
厚鋼板の探傷に二振動子垂直探触子を用いた場合、試験体と探触子とのギャップは0.3mm~0.8mm程度である。
26
[1]0.3~0.8, [2]段差, [3]水などの接触媒質, [4]超音波, [5]直接接触法
27
水浸法では、集束探触子を用いた垂直探傷がよく行われる。
28
溶接部を挟んで、送信及び受信用縦波斜格探触子を試験体表面に配置して、探傷する。
29
きずの指示高さを測定することができる方法である。
30
TOFD法では、縦波斜角探触子を用いて探傷を行う。
31
TOFD法は、アルミニウム合金溶接部の探傷にも適用できる。
32
探傷面が粗いときには、アクリル樹脂などの遅延材付きの探触子が適している。
33
B5C20N
34
[1]10, [2]93.8, [3]13
35
babb
36
bcbbc
37
aabbb
38
探傷面に近いきずを検出するときには、高い周波数が適している。
39
薄板の探傷には、高い周波数が適している。
40
caaaa
41
NDT指示書
42
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
43
NDT指示書は、レベル1技術者が探傷条件を誤ることがないように、具体的な探傷条件を記述する。
44
NDT Instruction
45
探傷面に曲率がある場合、振動子寸法を小さくした方が影響は少なくなる。
46
表面と裏面の粗さが同じであれば、伝達損失の方が反射損失よりも大きい。
47
bb
48
ラミネーションの検出には、垂直探傷を行い、きずエコーの有無を調べる。
49
鋼板Bは鋼板Aより探触子の接触が悪い。
50
A点のF/BFの値の方が大きいから、A点の傷の方が大きい。
51
cca
52
局部水浸法で探傷する場合、直接接触法に比べて、探傷面の粗さの影響を受けにくい。
53
dcaa
54
きず個数の評価は、軽きずや重きずは中きず区分に換算して中きず区分の総数で評価を行う。
55
b
56
DGS線図を使用し、きずの大きさを推定する。
57
ac
58
探傷器のパルス繰り返し周波数を変化させて確認する。
59
bd
60
林状エコーが多く、底面エコーが現れない場合、試験周波数をもっと低くする。
61
K走査探傷法
62
探傷には、垂直探触子、斜角探触子及び二振動子垂直探触子を併用する。
63
bc
64
大型品が多く、メタルフローが複雑になっておりきずの方向性が複雑である。
65
ddbccb
66
bcd
67
cb
68
同一とみなされる反射源の二つのきずに対して、きずときずの間隔が、長い方のきずの長さと同じか又はそれより短い場合は、同一きず群とみなし、それらの間隙を含めて連続したきずとする。
69
aac
70
エコー高さ区分線の作成及び探傷感度の調整にRB-42を用いて行う。
71
b
72
横割れの検出には、可能であれば余盛を切削して溶接線上走査で行うのが良い。
73
dba
74
面状の割れに対する超音波の入射角度が変わると、エコー高さは著しく変化する。
75
RB-42を用いて探傷感度を調整する。
76
溶接線上走査
77
JIS Z 3060で、試験周波数を2MHz~5MHzと規定しているのは、試験体板厚に応じたビーム路程ときず検出能を考慮しているためである。
78
RB-43を用いて探傷感度を調整する。
79
ベベル角30度のV開先突合せ溶接部に発生する開先面の融合不良の検出には、屈折角60度の探触子を用いて一回反射法で探傷するのが良い。
80
斜角探傷では超音波の伝搬する部分に音響異方性がある場合、音速のみならず減衰係数も異なる。
81
2Z20×10A45を使用し、きずの指示長さを6dB低下法により測定した。
82
鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷や斜角探傷も行う必要がある。