問題一覧
1
15
2
34
3
局部水浸法で探傷する場合、直接接触法に比べて、探傷面の粗さの影響を受けにくい。
4
林状エコーが多く、底面エコーが現れない場合、試験周波数をもっと低くする。
5
+6.0
6
0
7
-8.0
8
-8.5
9
エコー高さ区分線の作成及び探傷感度の調整にRB-42を用いて行う。
10
面状の割れに対する超音波の入射角度が変わると、エコー高さは著しく変化する。
11
タンデム探傷法
12
V反射探傷法
13
JIS Z 3060で、試験周波数を2MHz〜5MHzと規定しているのは、試験体板厚に応じたビーム路程ときず検出能を考慮しているためである。
14
検査箇所①はアンダーカットと推定されるので外観検査により再確認する必要がある。
15
検査箇所③は開先部の融合不良の可能性が高い。
16
59.9
17
120
18
125
19
56.5
20
113
21
6.7
22
鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷や斜角探傷も行う必要がある。
23
積算効果が現れた場合、きずの評価は特に指定がないかぎり、F1で行なう。
24
66.0
25
47.9
26
広帯域探触子は、周波数帯域の広い装置を使用した方がよい。
27
広帯域探触子を使用する場合、探傷器の受信帯域を探触子の公称周波数に合わせ、帯域幅を広帯域に設定する。
28
フェーズドアレイ探触子は、個々の振動子に電圧を印加する順番を電子的に調整することで、斜めに超音波を伝搬させることができる。
29
斜角探触子の屈折角及び板厚を入力しておくと、斜角演算機能により、きずの深さ位置及び探触子きず距離を表示できる。
30
デジタル探傷器では、各種の探傷に適切なゲート位置、ゲート幅を調整する必要がある。
31
Aスコープとは、横軸に時間の経過をとり、縦軸に信号の大きさを表示する基本表示のことである。
32
Aスコープ表示
33
Bスコープ表示
34
Cスコープ表示
35
MAスコープ表示
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局部水浸法で探傷する場合、直接接触法に比べて、探傷面の粗さの影響を受けにくい。
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林状エコーが多く、底面エコーが現れない場合、試験周波数をもっと低くする。
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+6.0
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0
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-8.0
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-8.5
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エコー高さ区分線の作成及び探傷感度の調整にRB-42を用いて行う。
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面状の割れに対する超音波の入射角度が変わると、エコー高さは著しく変化する。
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タンデム探傷法
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V反射探傷法
13
JIS Z 3060で、試験周波数を2MHz〜5MHzと規定しているのは、試験体板厚に応じたビーム路程ときず検出能を考慮しているためである。
14
検査箇所①はアンダーカットと推定されるので外観検査により再確認する必要がある。
15
検査箇所③は開先部の融合不良の可能性が高い。
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59.9
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56.5
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6.7
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鋳鋼品には、引け巣のような強度に影響するきずが発生するので、きずの発生を予測して、垂直探傷や斜角探傷も行う必要がある。
23
積算効果が現れた場合、きずの評価は特に指定がないかぎり、F1で行なう。
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66.0
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47.9
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広帯域探触子は、周波数帯域の広い装置を使用した方がよい。
27
広帯域探触子を使用する場合、探傷器の受信帯域を探触子の公称周波数に合わせ、帯域幅を広帯域に設定する。
28
フェーズドアレイ探触子は、個々の振動子に電圧を印加する順番を電子的に調整することで、斜めに超音波を伝搬させることができる。
29
斜角探触子の屈折角及び板厚を入力しておくと、斜角演算機能により、きずの深さ位置及び探触子きず距離を表示できる。
30
デジタル探傷器では、各種の探傷に適切なゲート位置、ゲート幅を調整する必要がある。
31
Aスコープとは、横軸に時間の経過をとり、縦軸に信号の大きさを表示する基本表示のことである。
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Aスコープ表示
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