問題一覧
1
hot test 온도
75 ~ 85도
2
test 공정
DC - MBT - TEST - marking - inspection - packing
3
정보 시각화 5가지 아닌것
선형 시각화
4
i 아이콘
summary table
5
package 조립공정
back lap - wf saw - die attach - wire bond - mold marking - solder ball attach - saw/ sorter
6
metal 역할 아닌것
gate
7
동적으로 확장가능한 가상화 자원 인터넷으로 서비스하는 기술
클라우드 컴퓨팅
8
중요 정보를 한장의 그래픽으로 표현해 보는 사람들이 손쉽게 해당 정보 이해할 수 있게 만드는 그래픽메세지
인포그래픽
9
반도체 열화 특성 아닌것 - polymer
계면전위증가
10
test 공정 DC 틀린점
온도 : 125도 이상
11
다양 ㄷㅔ이터 원천으로부터 데이터 추출 변환하여 필요에의해 다른곳으로이동
ETL
12
데이터 조회위주, 정보 위주 분석처리 의미
OLAP
13
분산처리기술 아닌것
Hadoop
14
시각화 위한 그래픽 디자인 기본원리 아닌것
명도
15
구글에서 분산병렬컴퓨팅 이용해 대용량 데이터 처리 목적으로 제작한 SW 프레임워크
맵리듀스
16
자기디스크 테이프 컴퓨터가 접근할수있는 저장매체에 저장되는것
저장된데이터
17
TEST STEP 3가지
모두 같은 test program 사용
18
데이터 베이스에 저장된 내용은 곧 데이터베이스의 현시점에서의 상태 나타내고 새로운 데이터 삽입 기존 데이터 삭제, 갱신하는 데이터
변화되는데이터
19
physical cleaning 아닌것
plasma
20
solder ball attach 순서
fluxing - ball attach - reflow - cleaning
21
CVD 필름 성장방식 아닌것
Swalschi-edder mode
22
여러개의 서버(가상서버)에 하나의 데이터베이스 구축하는것
데이터베이스 클러스터
23
이온 주입 공정 파라미터 아닌것
diffusion
24
데이터통합
파티셔닝, 클러스터링
25
디지털화 저장기술발달 인터넷보급 모바일혁명 클라우드컴퓨팅
기술발전
26
관찰 성찰 기반으로 내부-외부 요인들간 관계 통해 살펴보는것
통찰
27
test 공정안에서 움직이는 최소단위
LOT
28
센싱데이터 비정형데이터
volume
29
빅데이터 시각화 프로세스 3단계
정보 구조화 - 시각화 - 시각표현
30
데이터에 숨어있는 가치 발굴해 새로운 성장동혁원으로 기술확보
산업계
31
용도에 따라 여러 옵션 공정에 적용 가능, wf 한장씩 회전하며 용도에 맞는 케미컬 노즐으로 처리, small partivle 제어 및 etch uniformity 개선에 유리
single spin
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테스트 인프라 구성요소 아닌것
pcb
33
형태 형식이 정해져있지않아 저장 검색 분석에 많은 비용과 기술적투자 수반 언어 문자등 데이터
정성적
34
pcb 휘어짐 검사
warpage
35
반도체 열화 특성 아닌것 - particle
junction leakage current
36
반도체 열화 특성 아닌것 - organic
접촉불량
37
정형 비정형데이터
variety
38
FLASH EDS 공정
LABEL-ET-WBI-HOT TEST-Bake-Cold Test
39
package 기능 아닌것
수율 향상
40
시각화와 인사이트
고찰
41
사회적으로 주용하지만 다른사람에게 공유되기 어려움 김장김치담그기 자전거타기
암묵적지식
42
동일한 내용의 데이터 중복되어있지 않은것
통합된 데이터
43
문서나 매뉴얼처럼 형상화된 지식 전달과 공유에 용이, 교과서 비디오 DB
형식적지식
44
외부세계의 온갖대상과 그대상들사이 상호작용 관찰하며 의미있는 관계 찾아내는것
관찰
45
데이터 양 크게 증가해도 이를 관리하는 시스템에 저장 검색 분석해 활용하기 용이 수치 도형 기호등
정량적
46
여러 사용자가 서로 다른 목적으로 데이커 공동으로 이용하는것
고용데이터
47
분산 병렬 처리의 업계표준인 맵리듀스 시스템과 분산파일시스템인 HDFS를 핵심구성요소로 가지는 플랫폼기술
하둡 (HADOOP)
48
cold test 온도
-25 ~ -5도
49
test 공정 틀린점
test ; 초기수명 불량선별
50
비정형데이터 처리 프로세스
데이터소스 - 수집 - 저장 - 분석 - 표현
51
package 조립공정
Back Lap - wf saw- die attach - wire bone - mold - marking - solder ball attach - saw sorter
52
데이터로부터 의미있는 정보 추출해내는 학문 다양한 유형의 모든 데이터 대상으로하는것
데이터 사이언스
53
시각화 인사이트 프로세스 아닌것
관찰
54
MBT test 틀린점
온도 125도 이상 -15도 이하
55
정보 구조화 4가지 아닌것
데이터 수정
56
파티셔닝 틀린것
특정 파티션에서 장애 발생해도 서비스중단X
57
반도체 열화 특성 아닌것 - metal
절연막 내압 불량
58
chemical cleaning
모두 정답
59
제품 수명곡선
infant mortality - normal life - wear out
60
인간 몸속 유전정보 가지고잏는 게놈 해독해 유전자지도 작성, 유전자 배열 연구
하계
61
데이터베이스 데이터 수시로 갱신하는 프로세싱 방법
OLTP
62
반도체 외관이 검정색인 이유 상온에서 고체 - 열 가할경우 액체상태로 변화
EMC
63
자크베르탱 그래픽 7요소
방법
64
하나의 서버에서 여러개의 애플리케이션 미들웨어 운영체제들아 서로 영향미치지 않으며 동시에 사용할수있게하는것
서버가상화
65
하둡 붐산 파일 시스템(HDFS)과 데이터베이스간 데이터 연동 솔루션
스쿱 (Sqoop)
66
data 종류 네가지 아닌것
가공된 데이터
67
데이터 수집 처리측면
velocity
68
DRAM EDS 공정
Label-bake-ET-WBI-HOT TEST-COLD TEST-repair-EDS out
69
시그마 아이콘
cross table
70
데이터에대한 변경 식별해 데이터 전송공유 등 후속처리 자동화하는 설계기법
CDC
71
RCA 세정공정
NHF
72
실행단계
스플릿 - 맵 - 컴바인 - 셔플 - 정렬 - 리듀스
73
본질적 변화 아닌것
양 -> 질
74
시간 흐름에 따라 시간 외 다른 측정값들 어떻게 변화하는지 보여주는 시각화도구
모션차트
75
NoSQL 설명 틀린것
관계형 데이터베이스 관리시스템
76
즉시 통계적 분석에 사용될 수 있을만한 형태로 정리되고 가공된 데이터
정형 데이터
77
빈도에 따라 색상이나 크기결정 형태소단위를 추출하는 것을 NLP관점에서 접근하는것
워들(wordle)
78
제품 구명곡선과 무관하게 발생
pattern fail mechanism
79
여러장의 wf 동시처리, wf처리 매수당 케미컬 사용량 적음, 식각산포 및 particle 제어에 불리
wet bath
80
사용자 실수/ 오동작 등 간헐적으로 발생
random failure
81
다양 종류 대규모 데이터로부터 저렴 비용으로 가치추출 데이터초고속 수집 발굴 분석 지원하게 고안된 ㅌ차세대기술 아키텍처
IDC
82
DIKW 피라미드
지식 : 패턴 인식 및 의미 부여
83
자신의 내면세계 깊이 살펴보는것
성찰
84
원하는 데이터 추출 및 분석속도 아닌것
품질관리