試験対策問題（11）
問題一覧
1
Be 窓のところにも絶縁油が必要である。
2
CR の AEC センサー位置不良の場合は線量不足になる。
3
グリッド除去で撮影ても散乱線はソフトウエアで除去できない。
4
乳癌検出率が上昇し、偽陰性が増加する。, シリコン検出器を用いることにより従来のMMGと同様の照射線量で撮影できる。
5
モニタはワークステーション全体である。, ビューワはワークステーションの一部である。
6
陽極角度を大きくする。, リプル百分率を大きくする。
7
管電圧を上げると線量が小さくなり、X 線発生率が増大する。, 照射線量は X 線の流量に反比例して X 線強度とも呼ばれている。
8
ピクセルサイズが大きいと空間分解能が良い。, データ量は縦ピクセル×横ピクセルである。
9
網膜
10
フリッカー, 臨界融合周波数
11
それまでと違う間隔を得る最小刺激強度さを弁別閾という。, 明暗の境界部分でエッジが強調されて感じる現象をマッハ効果という。
12
X 線エネルギーが高くなると被写体コントラストが低下する。, W 焦点の X 線管で管電圧 50kV で X 線を照射させても K α特性 X 線は発生しない。
13
空間分解能は標本化間隔と同じではない。
14
ピクセル値は標本化によって得られた信号値である。, 量子化レベル数が小さいほど濃度分解能に優れた画像である。
15
サンプリングピッチが小さいほど量子化誤差が小さい。, 画像を読み取る際のアパーチャーサイズが大きいとノイズ特性は悪くなる。
16
X 線画像コントラストは被写体透過後の 2 点間の X 線強度差である。
17
CT、MRI などは原画像のまま表示できない。
18
表示輝度はバックライト輝度と液晶パネルの不透過率で決定される。, デジタル MMG はモニタよりマトリックス数が小さく、画素サイズが大きい。
19
ダイナミックレンジ
20
電離箱式(シャロー型), 半導体式(シリコン)
試験対策問題（Ⅰ）
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1
Be 窓のところにも絶縁油が必要である。
2
CR の AEC センサー位置不良の場合は線量不足になる。
3
グリッド除去で撮影ても散乱線はソフトウエアで除去できない。
4
乳癌検出率が上昇し、偽陰性が増加する。, シリコン検出器を用いることにより従来のMMGと同様の照射線量で撮影できる。
5
モニタはワークステーション全体である。, ビューワはワークステーションの一部である。
6
陽極角度を大きくする。, リプル百分率を大きくする。
7
管電圧を上げると線量が小さくなり、X 線発生率が増大する。, 照射線量は X 線の流量に反比例して X 線強度とも呼ばれている。
8
ピクセルサイズが大きいと空間分解能が良い。, データ量は縦ピクセル×横ピクセルである。
9
網膜
10
フリッカー, 臨界融合周波数
11
それまでと違う間隔を得る最小刺激強度さを弁別閾という。, 明暗の境界部分でエッジが強調されて感じる現象をマッハ効果という。
12
X 線エネルギーが高くなると被写体コントラストが低下する。, W 焦点の X 線管で管電圧 50kV で X 線を照射させても K α特性 X 線は発生しない。
13
空間分解能は標本化間隔と同じではない。
14
ピクセル値は標本化によって得られた信号値である。, 量子化レベル数が小さいほど濃度分解能に優れた画像である。
15
サンプリングピッチが小さいほど量子化誤差が小さい。, 画像を読み取る際のアパーチャーサイズが大きいとノイズ特性は悪くなる。
16
X 線画像コントラストは被写体透過後の 2 点間の X 線強度差である。
17
CT、MRI などは原画像のまま表示できない。
18
表示輝度はバックライト輝度と液晶パネルの不透過率で決定される。, デジタル MMG はモニタよりマトリックス数が小さく、画素サイズが大きい。
19
ダイナミックレンジ
20
電離箱式(シャロー型), 半導体式(シリコン)