問題一覧
1
漏洩磁束が存在する付近に磁粉を適用すると、これらは磁化され、磁粉は互いにつながって、きず部に凝集・吸着し、きずによる磁粉模様が形成される。
2
試験体からの漏洩磁束が多いことは、試験体が強く磁化されていることを表している。
3
磁気回路の長さLが等しければ、起磁力Fを大きくすると磁界の強さHは大きくなる。
4
起磁力は、コイルに流す電流とコイルの巻数の積で与えられる。
5
F=φ・R
6
電磁石の場合、起磁力はコイルに流れる電流とコイルの巻数の積に比例する。
7
それぞれの磁極の強さの積に比例し、相互の距離の自乗に反比例する。
8
磁力線は、磁極の近くでは密であり、遠くになると疎になる。
9
空間においては、磁束線は磁力線と一致する。
10
この関係を利用すると、磁粉探傷試験をするときに検出しやすいきずの方向が分かる。
11
955 A/m
12
0.44 T
13
7430 A/m
14
1500 A/m
15
反磁界は、試験体を磁化した際に磁極が形成されないときは発生しない。
16
交流では、表皮効果のため磁束が試験体表層部に集中し、磁束が流れる表層部分と等価断面積となる円の直径が実際の直径より小さくなり、L/Dの値が大きくなるためである。
17
試験体の磁化の強さに比例する。
18
きずから漏洩磁束が生じるのは、きず部の磁気抵抗が増加するためである。
19
きずのない丸棒の軸方向に電流を流して磁化した場合、磁束線は同心円状に分布する。
20
きずからの漏洩磁束密度は強磁性体の表面近くが最も大きく、表面から遠ざかるに従って急激に減少する。
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20問 • 11ヶ月前問題一覧
1
漏洩磁束が存在する付近に磁粉を適用すると、これらは磁化され、磁粉は互いにつながって、きず部に凝集・吸着し、きずによる磁粉模様が形成される。
2
試験体からの漏洩磁束が多いことは、試験体が強く磁化されていることを表している。
3
磁気回路の長さLが等しければ、起磁力Fを大きくすると磁界の強さHは大きくなる。
4
起磁力は、コイルに流す電流とコイルの巻数の積で与えられる。
5
F=φ・R
6
電磁石の場合、起磁力はコイルに流れる電流とコイルの巻数の積に比例する。
7
それぞれの磁極の強さの積に比例し、相互の距離の自乗に反比例する。
8
磁力線は、磁極の近くでは密であり、遠くになると疎になる。
9
空間においては、磁束線は磁力線と一致する。
10
この関係を利用すると、磁粉探傷試験をするときに検出しやすいきずの方向が分かる。
11
955 A/m
12
0.44 T
13
7430 A/m
14
1500 A/m
15
反磁界は、試験体を磁化した際に磁極が形成されないときは発生しない。
16
交流では、表皮効果のため磁束が試験体表層部に集中し、磁束が流れる表層部分と等価断面積となる円の直径が実際の直径より小さくなり、L/Dの値が大きくなるためである。
17
試験体の磁化の強さに比例する。
18
きずから漏洩磁束が生じるのは、きず部の磁気抵抗が増加するためである。
19
きずのない丸棒の軸方向に電流を流して磁化した場合、磁束線は同心円状に分布する。
20
きずからの漏洩磁束密度は強磁性体の表面近くが最も大きく、表面から遠ざかるに従って急激に減少する。