問題一覧
1
底面エコー方式の感度調整による探傷では、試験片方式による感度調整よりも、きずを大きめに評価する傾向がある。
2
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面の粗さの影響を受けにくい。
3
高くなる
4
低くなる
5
表示器上、80%のエコーに対し、ゲイン値を10dB下げると、そのエコーは25%になった。
6
68.5
7
5.0
8
STB-G V15-2.8
9
DGS線図によってきずの大きさを評価するとき、減衰が大きい場合は補正を必要とする。
10
4.2
11
きず高さは、T0FD法や端部エコー法で測定することができる。
12
33
13
63
14
林状エコーは、試験体中の結晶粒界による超音波の散乱によって生じる。
15
溶接部のきず
16
溶接部のきず
17
B面側の母材きず
18
33.4
19
45.4
20
減衰が小さい材料で、パルス繰返し周波数が高すぎると残留エコーが発生する。
21
保守検査の対象となるきずに、横割れ、縦割れがある。
22
板厚30mmを超える厚鋼板の探傷と同様に、F1で評価すべきである。
23
妨害エコーには、試験体の形状に起因するエコーや材料内部の結晶粒の粗さに起因するエコーがある。
24
林状エコーが多数発生する試験体の探傷では、広帯域探触子を用いる。
25
溶接部の探傷では、探傷データから反射源の位置を算出し、溶接部の断面形状、寸法を考慮して、きずエコーか妨害エコーかの判断をする。
26
このきずの分類は4類である。
27
試験年月日、試験技術者名、試験技術者の資格
28
使用した探傷器名、識別記号及び点検日時
29
非破壊検査の資格試験に関する規格である。
30
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
31
購入時
32
12か月
33
±3%
34
±1%
35
40dB
核医学
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1
底面エコー方式の感度調整による探傷では、試験片方式による感度調整よりも、きずを大きめに評価する傾向がある。
2
底面エコー方式による感度調整は、試験体の探傷面の粗さの影響を受けにくい。
3
高くなる
4
低くなる
5
表示器上、80%のエコーに対し、ゲイン値を10dB下げると、そのエコーは25%になった。
6
68.5
7
5.0
8
STB-G V15-2.8
9
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10
4.2
11
きず高さは、T0FD法や端部エコー法で測定することができる。
12
33
13
63
14
林状エコーは、試験体中の結晶粒界による超音波の散乱によって生じる。
15
溶接部のきず
16
溶接部のきず
17
B面側の母材きず
18
33.4
19
45.4
20
減衰が小さい材料で、パルス繰返し周波数が高すぎると残留エコーが発生する。
21
保守検査の対象となるきずに、横割れ、縦割れがある。
22
板厚30mmを超える厚鋼板の探傷と同様に、F1で評価すべきである。
23
妨害エコーには、試験体の形状に起因するエコーや材料内部の結晶粒の粗さに起因するエコーがある。
24
林状エコーが多数発生する試験体の探傷では、広帯域探触子を用いる。
25
溶接部の探傷では、探傷データから反射源の位置を算出し、溶接部の断面形状、寸法を考慮して、きずエコーか妨害エコーかの判断をする。
26
このきずの分類は4類である。
27
試験年月日、試験技術者名、試験技術者の資格
28
使用した探傷器名、識別記号及び点検日時
29
非破壊検査の資格試験に関する規格である。
30
NDT指示書は、レベル2以上の技術者が作成する。
31
購入時
32
12か月
33
±3%
34
±1%
35
40dB