磁気探傷2024春4
問題一覧
1
磁化器の磁化性能は、テスラメータで試験体表面の磁界の強さ(磁束密度)を測定して調べる。
2
磁化器の全磁束が変化すると、探傷有効範囲は変化する。
3
衝撃電流は通電時間が短いため、連続法には適用できない。
4
衝撃流の場合の通電時間は、一般に1/100秒以下であるが、3回以上通電を繰り返すのが効果的であるとされている。
5
乾式磁粉は、空気を媒体として、乾式磁粉専用散布器や圧縮空気などを利用して磁粉を適用する。
6
湿式法を用いれば、複雑な形状をした試験体でも、広範囲に検査液を適用できるため、1回で探傷できる範囲は非常に大きいのが特徴である。
7
磁粉模様は、検査液が磁粉を流し去る力ときず部に生じた磁極がもつ磁粉の吸着力との差によって形成される。
8
同類で、溝の深さと板の厚さとの比の等しいA型標準試験片同士は、磁粉模様を現す限界の磁界の強さがほぼ等しい。
9
溝の深さと板厚との比が同じ場合、A1はA2より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れる。
10
溶接部の開先面などの、寸法的にA型標準試験片の使用が困難な場所に用いることができる。
11
磁粉の形式試験及びバッチ試験に用いるために使用する。
12
その使用に際して、外部からの磁化を必要としない。
13
その使用に際して、外部からの磁化を必要としない。
14
リフトオフが変化しても、空間の漏洩磁束密度はほとんど変化しない。
15
試験体表面に対して平行方向成分の磁束密度を測定し、この磁束密度の値を真空の透磁率で除して磁界の強さを求める。
16
断面急変指示は、磁化電流値を下げて再磁化すると、疑似模様は消える。
17
応力が加わる表面に存在する鋭い切欠きは、表面下のきずよりも有害である。
18
厚板と薄板ではきずの影響度は異なり、薄板の方が小さいきずの影響度は大きい。
19
鋳鍛造品は、一般に、その形状が比較的複雑で、その大きさも種々雑多である。
20
焼割れ
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1
磁化器の磁化性能は、テスラメータで試験体表面の磁界の強さ(磁束密度)を測定して調べる。
2
磁化器の全磁束が変化すると、探傷有効範囲は変化する。
3
衝撃電流は通電時間が短いため、連続法には適用できない。
4
衝撃流の場合の通電時間は、一般に1/100秒以下であるが、3回以上通電を繰り返すのが効果的であるとされている。
5
乾式磁粉は、空気を媒体として、乾式磁粉専用散布器や圧縮空気などを利用して磁粉を適用する。
6
湿式法を用いれば、複雑な形状をした試験体でも、広範囲に検査液を適用できるため、1回で探傷できる範囲は非常に大きいのが特徴である。
7
磁粉模様は、検査液が磁粉を流し去る力ときず部に生じた磁極がもつ磁粉の吸着力との差によって形成される。
8
同類で、溝の深さと板の厚さとの比の等しいA型標準試験片同士は、磁粉模様を現す限界の磁界の強さがほぼ等しい。
9
溝の深さと板厚との比が同じ場合、A1はA2より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れる。
10
溶接部の開先面などの、寸法的にA型標準試験片の使用が困難な場所に用いることができる。
11
磁粉の形式試験及びバッチ試験に用いるために使用する。
12
その使用に際して、外部からの磁化を必要としない。
13
その使用に際して、外部からの磁化を必要としない。
14
リフトオフが変化しても、空間の漏洩磁束密度はほとんど変化しない。
15
試験体表面に対して平行方向成分の磁束密度を測定し、この磁束密度の値を真空の透磁率で除して磁界の強さを求める。
16
断面急変指示は、磁化電流値を下げて再磁化すると、疑似模様は消える。
17
応力が加わる表面に存在する鋭い切欠きは、表面下のきずよりも有害である。
18
厚板と薄板ではきずの影響度は異なり、薄板の方が小さいきずの影響度は大きい。
19
鋳鍛造品は、一般に、その形状が比較的複雑で、その大きさも種々雑多である。
20
焼割れ